[发明专利]分析装置及电子设备

权利要求书

1.一种分析装置，其特征在于，具备：

电场增强元件，包括：金属层、设置于所述金属层上并使激发 光透过的透光层、及设置于所述透光层上并沿第一方向和与所述第 一方向交叉的第二方向排列的多个金属粒子；

光源，将沿所述第一方向偏振的直线偏振光、沿所述第二方向 偏振的直线偏振光以及圆偏振光中的至少一个作为所述激发光而照 射至所述电场增强元件；以及

检测器，检测从所述电场增强元件发射的光，

在所述金属粒子上激发的局域型表面等离子体和在所述金属 层与所述透光层的界面上激发的传播型表面等离子体电磁地相互作 用，

将所述透光层的厚度设为G、将所述透光层的有效折射率设为 n_eff、将所述激发光的波长设为λ_i时，其中，所述G和所述λ_i的单位 为nm，下述式(1)的关系被满足：

20[nm]＜G·(n_eff/1.46)≤140[nm]·(λ_i/785[nm])···(1)。

2.一种分析装置，其特征在于，具备：

电场增强元件，包括：金属层、设置于所述金属层上并使激发 光透过的透光层、及设置于所述透光层上并沿第一方向和与所述第 一方向交叉的第二方向排列的多个金属粒子；

光源，将沿所述第一方向偏振的直线偏振光、沿所述第二方向 偏振的直线偏振光以及圆偏振光中的至少一个作为所述激发光而照 射至所述电场增强元件；以及

检测器，检测从所述电场增强元件发射的光，

在所述金属粒子上激发的局域型表面等离子体和在所述金属 层与所述透光层的界面上激发的传播型表面等离子体电磁地相互作 用，

所述透光层由通过m层的层层叠而成的层叠体构成，

m是自然数，

所述透光层从所述金属粒子侧向所述金属层侧按照第一透光 层、第二透光层、…、第m-1透光层、第m透光层的顺序层叠，

将所述金属粒子的周边的折射率设为n₀、将所述金属层的法线 方向与所述激发光的入射方向所成的角设为θ₀、将所述金属层的法 线方向与所述第m透光层中的所述激发光的折射光朝向所述金属层 的入射方向所成的角设为θ_m、将所述第m透光层的折射率设为n_m、 将所述第m透光层的厚度设为G_m、将所述激发光的波长设为λ_i时， 其中，所述G和所述λ_i的单位为nm，下述式(2)以及式(3)的 关系被满足：

n₀·sinθ₀＝n_m·sinθ_m···(2)

20[nm]<Σn=1m{(Gm·cosθm)(nm/1.46)}≤140[nm]·λi/785[nm]...(3).]]>