[发明专利]AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法

说明书

本发明提供了一种AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法。所述测试组件包括：至少一个奇数开关，分别与所述多条数据线中的奇数数据线电性连接；至少一个偶数开关，分别与所述多条数据线中的偶数数据线电性连接；第一开关线路，与所述至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；第二开关线路，与所述至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制所述至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；其中所述至少一个奇数开关和所述至少一个偶数开关中的每一个与所述至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号。

技术领域

本发明涉及一种显示器技术领域，尤其涉及一种AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷测试方法。

背景技术

有机发光二极管(OLED)由于具有低成本、低功耗、高亮度、自发光、全彩色、宽视角和易于制作在柔性衬底上等的优点，引起人们广泛的兴趣。在有机发光二极管显示器中，AMOLED(Active Matrix/Organic Light Emitting Diode，有源矩阵有机发光二极管面板)产品采用薄膜场效应晶体管(TFT，以下简称晶体管)形成像素电路，来实现OLED的画面显示。

在现行的AMOLED产品设计中，AA区(Active Area，有效显示区域)的像素电路采用nTmC(n≥4，m≥1，m、n均为正整数)的结构，例如，一般采用4T1C/4T2C/5T1C/6T1C/6T2C/7T1C等的电路设计，其中，T表示晶体管，C表示电容。图1示出了一种7T1C像素电路的电路图。

通常在有机发光二极管显示器的驱动背板制备过程中，需要对其功能进行测试。采用阵列测试器(Array Tester)进行测试时，通过从图1所示的像素电路中的数据线(Dm)读取电容C1中的电容值并汇集成电容值映射表(Map)，利用电荷感应原理，对驱动背板进行缺陷(Defect)的判断。

但是由于在测试时，测试焊盘(Test Pad)与图1中的数据线Dm并非一一对应的，而是通过多级的开关电路切换来实现对数据线Dm的逐一读取，使得在读取电容C1的存储电容值时，相邻数据线处于漂浮(floating)状态，该状态为一种非接地(Not Grounded)、非零电压(Not 0V)状态。图2示出了一种相邻数据线短路或相邻ITO电极短路的示意图。如图2所示，当两条数据线之间出现短路，或者一条数据线两侧的ITO电极之间出现短路时，则不能有效检测测试信号，从而不利于短路缺陷的检出。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种可提高缺陷检出率的AMOLED显示器、其测试组件及其缺陷检测方法。

本发明的额外方面和优点将部分地在下面的描述中阐述，并且部分地将从描述中变得显然，或者可以通过本发明的实践而习得。

本发明提供了一种用于AMOLED显示器的基于电荷感应测试的测试组件，该AMOLED显示器具有显示区和外围非显示区，该显示区包括多条数据线，该测试组件位于该外围非显示区。该测试组件包括：至少一个奇数开关，分别与多条数据线中的奇数数据线电性连接；至少一个偶数开关，分别与多条数据线中的偶数数据线电性连接；第一开关线路，与至少一个奇数开关电性连接以用于传送控制至少一个奇数开关的导通和关闭的控制信号；第二开关线路，与至少一个偶数开关电性连接以用于传送控制至少一个偶数开关的导通和关闭的控制信号；以及至少一条信号源线路，用于分别接收来自信号源的信号；其中至少一个奇数开关和至少一个偶数开关中的每一个与至少一条信号源线路的其中之一电性连接，以向相应的数据线传送所述信号。

于一实施例中，上述至少一条信号源线路包括：第一信号源线路和第二信号源线路；其中，该第一信号源线路与上述至少一个奇数开关分别电性连接，该第二信号源线路与上述至少一个偶数开关分别电性连接。