[发明专利]一种近晶相液晶屏的电量检测方法

权利要求书

1.一种近晶相液晶屏的电量检测方法，其特征在于，它包括如下步骤：

1)在初始化近晶相液晶屏时，对于施加在行或列上的具有m个脉冲的低频高压脉冲，去除最前面的a个脉冲和最后面的b个脉冲，对余下位于中间的(m-a-b)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行平均采样p次并对p次采样值求得采样平均值，从而在得到的(m-a-b)个采样平均值中取最小值作为初始化阶段的电量信息；

2)在扫描驱动近晶相液晶屏时，对于施加在行上的具有n个脉冲的高频高压脉冲，去除最前面的c个脉冲和最后面的d个脉冲，对余下位于中间的(n-c-d)个脉冲中的每个脉冲的电压值进行1次采样，得到(n-c-d)个采样值并对(n-c-d)个采样值求取平均值来作为行采样值，从而在对扫描驱动近晶相液晶屏各行所得到的所有行采样值中取最小值作为扫描驱动阶段的电量信息。

2.如权利要求1所述的电量检测方法，其特征在于：

所述电量检测方法还包括步骤：在初始化阶段的电量信息与扫描驱动阶段的电量信息中取最小值，以作为所述近晶相液晶屏整个驱动过程的电量信息。

3.如权利要求1所述的电量检测方法，其特征在于：

在步骤1)中，对脉冲的电压值进行平均采样p次是指对除去该脉冲的最前面t1时间和最后面t2时间后的余下时间段内的电压值进行p次平均采样。

4.如权利要求1或2或3所述的电量检测方法，其特征在于：

所述低频高压脉冲为低频高压正负脉冲或低频高压单向脉冲，其中，低频高压单向脉冲为低频高压正向脉冲或低频高压负向脉冲；

所述高频高压脉冲为高频高压正负脉冲或高频高压单向脉冲，其中，高频高压单向脉冲为高频高压正向脉冲或高频高压负向脉冲。

5.如权利要求4所述的电量检测方法，其特征在于：

所述低频高压正负脉冲的电压幅值小于阈值电压幅值，两倍的所述低频高压正负脉冲的电压幅值大于阈值电压幅值且小于3倍的阈值电压幅值，所述低频高压正负脉冲的频率介于10Hz与200Hz之间、脉冲个数介于10与1600之间，a、b、m为偶数，2≤a≤2(m-1)，2≤b≤2(m-1)，4≤(a+b)≤2(m-2)，1≤p≤100。

6.如权利要求4所述的电量检测方法，其特征在于：

所述低频高压单向脉冲的电压幅值大于阈值电压幅值，两倍的所述低频高压单向脉冲的电压幅值小于3倍的阈值电压幅值，所述低频高压单向脉冲的频率介于10Hz与200Hz之间、脉冲个数介于5与800之间，1≤a≤(m-1)，1≤b≤(m-1)，2≤(a+b)≤(m-2)，1≤p≤100。

7.如权利要求4所述的电量检测方法，其特征在于：

所述高频高压正负脉冲的电压幅值小于阈值电压幅值，两倍的所述高频高压正负脉冲的电压幅值大于阈值电压幅值且小于3倍的阈值电压幅值，所述高频高压正负脉冲的频率介于1KHz与10KHz之间、脉冲个数介于10与1600之间，c、d、n为偶数，2≤c≤2(n-1)，2≤d≤2(n-1)，4≤(c+d)≤2(n-2)。

8.如权利要求4所述的电量检测方法，其特征在于：

所述高频高压单向脉冲的电压幅值大于阈值电压幅值，两倍的所述高频高压单向脉冲的电压幅值小于3倍的阈值电压幅值，所述高频高压单向脉冲的频率介于1KHz与10KHz之间、脉冲个数介于5与800之间，1≤c≤(n-1)，1≤d≤(n-1)，2≤(c+d)≤(n-2)。