[发明专利]一种基于光谱辐射强度测量火焰温度和发射率分布的方法

说明书

技术领域

本发明涉及火焰温度和发射率分布测量方法，特别是涉及基于光谱辐射强度测量火焰温度和发射率分布技术领域，属于火焰光谱分析技术领域。

背景技术

辐射传热是热量传递的三种主要方式之一，基于辐射的测量技术是一种重要的测量手段，尤其在对如电站锅炉、工业炉等高温燃烧室这类温度高、动态、情况复杂、不允许干扰、无法近距离观测的对象进行测量时辐射测量技术的优越性就更为显著。辐射能量是发射率和温度的函数，如何由辐射能量计算这两个参数是我们想要解决的问题。许多学者对此问题进行了研究，并给出了许多计算方法，比如双色法[Yan W.,Zhou H.,Jiang Z.,Lou C.,Zhang X.,Energy&Fuels,27(2013)6754-6762.]。但这些方法均基于一定的先验假设，双色法假设火焰两个波长下发射率相同，其他方法也均需要假设发射率遵循一定的规律。已有的方法局限性较大，无法得到可靠的、无依赖性的结果，所以发展一种能够基于辐射强度有效地给出温度和发射率分布的测量方法很有实际意义。

发明内容

为了克服现有方法测量结果依赖一定假设的不足，本发明提供了一种基于光谱辐射强度测量火焰温度和发射率分布的方法,该方法能够基于光谱辐射强度有效地给出待测火焰的温度和发射率随波长的分布。

本发明所采用的技术方案如下：

一种基于光谱辐射强度测量火焰温度和发射率分布的方法，其特征在于所述方法包括如下步骤：

1)利用光谱仪获得待测火焰光谱辐射强度，输出光谱仪测量范围内的响应值及相应火焰不同波长的光谱辐射强度；

2)将发射率表示为波长的函数，将光谱辐射强度表示为：

I(λ,T)=ϵ(λ)·Ib(λ,T)=ϵ(λ)·c1πλ5ec2/λT=(a0+a1·λ+a2·λ2+...an·λn)·c1πλ5ec2/λT---(I)]]>