[发明专利]RapidIO总线协议的检测装置和检测方法在审
申请号: | 201510093820.4 | 申请日: | 2015-03-03 |
公开(公告)号: | CN104660470A | 公开(公告)日: | 2015-05-27 |
发明(设计)人: | 王珺;张孟杰 | 申请(专利权)人: | 北京华力创通科技股份有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 邱丽超 |
地址: | 100000 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | rapidio 总线 协议 检测 装置 方法 | ||
1.一种RapidIO总线协议的检测装置,其特征在于,包括第一、第二测试转接单元、信号分路单元、信号采集识别单元和协议检测单元;
所述第一测试转接单元,用于:接收第一通信单元发送端发送的RapidIO总线电信号,并将所述RapidIO总线电信号转换为总线光信号;
所述信号分路单元,用于:对所述总线光信号进行分路处理,生成第一分路光信号和第二分路光信号,将所述第一分路光信号发送至第二测试转接单元,将所述第二分路光信号发送至所述信号采集识别单元;
所述第二测试转接单元,用于:将所述第一分路光信号转换为第一分路电信号,将所述第一分路电信号发送至第二通信单元的接收端;
所述信号采集识别单元,用于:将所述第二分路光信号转换为第二分路电信号,对所述第二分路电信号进行采集和识别以得到待分析数据;
所述协议检测单元,用于:根据所述待分析数据对所述RapidIO总线协议进行检测。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述信号采集识别单元用于:
通过其内部FPGA电路的GTX接口对所述第二分路电信号进行采集,通过所述第二分路电信号中的特定识别符,判断所述第二分路电信号中的物理层数据包的内容类型。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述信号采集识别单元用于:
对所述第二分路电信号进行采集和识别,并进行存储组帧打包,以得到待分析数据;
所述待分析数据包括物理层数据包、数据包类型标识、接收数据包时刻、数据包来源端口和数据包计数信息。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,在所述信号采集识别单元之后,还包括:
存储单元,用于:通过高速FLASH存储阵列存储所述待分析数据。
5.根据权利要求1至4任一项所述的装置,其特征在于,所述协议检测单元用于:
根据所述待分析数据中的有效数据量对所述RapidIO总线协议进行检测。
6.一种RapidIO总线协议的检测方法,其特征在于,包括:
接收第一通信单元发送端发送的RapidIO总线电信号,并将所述RapidIO总线电信号转换为总线光信号;
对所述总线光信号进行分路处理,生成第一分路光信号和第二分路光信号;
将所述第一分路光信号转换为第一分路电信号,将所述第一分路电信号发送至第二通信单元的接收端;将所述第二分路光信号转换为第二分路电信号,对所述第二分路电信号进行采集和识别以得到待分析数据;
根据所述待分析数据对所述RapidIO总线协议进行检测。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述对所述第二分路电信号进行采集和识别,包括:
通过FPGA电路的GTX接口对所述第二分路电信号进行采集,通过所述第二分路电信号中的特定识别符,判断所述第二分路电信号中的物理层数据包的内容类型。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述第二分路电信号进行采集和识别以得到待分析数据,包括:
对所述第二分路电信号进行采集和识别,并进行存储组帧打包,以得到待分析数据;
所述待分析数据包括物理层数据包、数据包类型标识、接收数据包时刻、数据包来源端口和数据包计数信息。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述对所述第二分路电信号进行采集和识别以得到待分析数据之后,还包括:
通过高速FLASH存储阵列存储所述待分析数据。
10.根据权利要求6至9任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述待分析数据对所述RapidIO总线协议进行检测,包括:
根据所述待分析数据中的有效数据量对所述RapidIO总线协议进行检测。
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