[发明专利]低功率雷达物位计系统

权利要求书

1.一种用于确定罐中的物品的填充物位的雷达物位计系统，所述雷达物位计系统包括：

信号传播设备，其被设置成朝向所述物品的表面传播电磁发射信号，以及返回由于所述电磁发射信号在所述表面处的反射而生成的电磁反射信号；

微波信号源，其耦接至所述信号传播设备并且能够控制用以生成所述电磁发射信号；

微波信号源控制器，其耦接至所述微波信号源，并且被配置成控制所述微波信号源以生成如下测量扫描形式的所述发射信号，所述测量扫描包括用于限定所述发射信号的带宽的离散并且彼此不同的频率步进的时间序列；

混频器，其耦接至所述微波信号源和所述信号传播设备，并且被配置成合并所述发射信号与所述反射信号以形成中频信号；

采样器，其耦接至所述混频器，并且被配置成在所述测量扫描期间以多个采样次数对所述中频信号进行采样；以及

处理电路系统，其耦接至所述采样器并且被配置成基于所述中频信号来确定所述填充物位，

其中，所述微波信号源控制器和所述采样器能够彼此独立地控制，使得所述测量扫描中所包括的每个频率步进的持续时间能够与所述采样次数中的连续采样次数之间的采样时间间隔不同。

2.根据权利要求1所述的雷达物位计系统，其中，每个所述频率步进的持续时间基本上比所述采样时间间隔短。

3.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，其中，所述微波信号源控制器包括PLL电路系统。

4.根据权利要求3所述的雷达物位计系统，其中，所述PLL电路系统能够控制用以自动地生成所述测量扫描，所述处理电路系统被配置成控制所述PLL电路系统以自动地生成所述测量扫描。

5.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，其中，所述测量扫描具有小于10ms的持续时间。

6.根据权利要求5所述的雷达物位计系统，其中，所述测量扫描具有小于5ms的持续时间。

7.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，其中，所述发射信号的所述带宽为至少2.5GHz。

8.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，其中，所述雷达物位计系统被配置成提供具有第一载波频率的第一发射信号和具有第二载波频率的第二发射信号，所述第二载波频率是所述第一发射信号的所述第一载波频率的至少1.5倍。

9.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，所述雷达物位计系统能够控制在激活状态与空闲状态之间，其中，在所述激活状态下，控制所述微波信号源以生成所述发射信号，而在所述空闲状态下不生成发射信号。

10.根据权利要求9所述的雷达物位计系统，还包括能量存储装置，所述能量存储装置被配置成在所述雷达物位计系统处于所述空闲状态时存储能量，以及在所述雷达物位计系统处于所述激活状态时向所述微波信号源提供能量。

11.根据权利要求1或2所述的雷达物位计系统，其中，至少所述微波信号源和所述混频器被包括在集成式微波电路中。

12.根据权利要求11所述的雷达物位计系统，其中，所述微波信号源被配置成呈现偏离所述发射信号的载波频率大于或等于-70dBc/Hz@100kHz的相位噪声。

13.根据权利要求11所述的雷达物位计系统，其中，所述微波信号源被配置成呈现偏离所述发射信号的载波频率小于-50dBc/Hz@100kHz的相位噪声。

14.根据权利要求11所述的雷达物位计系统，其中，所述微波信号源包括压控振荡器。