[发明专利]基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置和方法

权利要求书

1.一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的装置，其特征在于，包括全漫反射元件、光学辐射测量仪，遮光元件和计算单元：

所述全漫反射元件，用于按照预设角度将太阳光漫反射至所述光学辐射测量仪中；

所述遮光元件设置于预定位置时能遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光；

所述光学辐射测量仪，用于测量所述全漫反射元件反射的光线，获取含有全漫反射太阳光的第一响应数据，和不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；

计算单元，用于计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：

校正单元，用于根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其它路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述全漫反射元件通过连接杆与所述光学辐射测量仪连接。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述遮光元件活动设置于所述光学辐射测量仪的镜筒表面。

6.一种基于光学辐射测量仪测量大气透过率的方法，其特征在于，包括：

通过全漫反射元件按照预设角度将太阳光漫反射至光学辐射测量仪中；

通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件反射的光线，获得含有全漫反射太阳光的第一响应数据；

遮挡照射所述全漫反射元件的太阳光，通过所述光学辐射测量仪测量所述全漫反射元件，获得不含所述全漫反射太阳光的第二响应数据；

计算所述第一响应数据和所述第二响应数据的响应差，根据所述响应差和预先获知的所述全漫反射太阳光在大气层外的响应数据，得到当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的整层大气透过率。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述当前测量路径下所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率，得到其他路径的所述光学辐射测量仪响应谱段的大气透过率的修正系数。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述全漫反射元件的漫反射波段覆盖所述光学辐射测量仪的响应波段。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述预设角度包括当前测量路径下观测太阳的角度。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述当前测量路径为太阳照射所述全漫反射元件的路径。