[发明专利]一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法

权利要求书

1.一种超声检测中精确定位材料上缺陷的方法，其特征在于，该方法的步骤是：

步骤一、在一个能够水平旋转的托盘(1)的水平工作面上固定放置一个长方体形规块(2)，在长方体形规块(2)长度方向的一侧固定放置一个限位块(3)，在托盘(1)的水平工作面上再放置一块用于确定检测基准的方形规块(4)，方形规块(4)相邻侧面之间互相垂直，将方形规块(4)的两个相邻侧面中的一个侧面与长方体形规块(2)长度方向的侧面贴合，另一个侧面与限位块(3)靠紧，然后整体放入水浸超声C扫描检测系统的水槽中；

步骤二、旋转托盘(1)，使托盘(1)水平工作面上的长方体形规块(2)的长度方向与水浸超声C扫描检测系统的水平直线平移轴X平行，然后用水浸超声C扫描检测系统的探头(5)的声束(6)对方形规块(4)的上表面进行水平扫描，探头(5)的声束(6)与方形规块(4)的上表面垂直，扫描方向为以下两个：

第一个扫描方向：当探头(5)的声束(6)的中心触及并位于方形规块(4)与长方体形规块(2)相贴合的侧面的边缘时，探头(5)的声束(6)的回波高度下降一半，将探头(5)的声束(6)在该位置处的Y坐标值定义为基准Y0；

第二个扫描方向：当探头(5)的声束(6)的中心触及并位于方形规块(4)与限位块(3)靠紧的侧面的边缘时，探头(5)的声束(6)的回波高度下降一半，将探头(5)的声束(6)在该位置处的X坐标值定义为基准X0；

步骤三、在被检材料(7)的水平超声探测面(8)的侧面加工两个互相垂直的竖直面(9)，将被检材料(7)放置于托盘(1)的水平工作面上，其中一个竖直面(9)与长方体形规块(2)长度方向的侧面贴合，另一个竖直面(9)与限位块(3)靠紧；

步骤四、用探头(5)的声束(6)对被检材料(7)的水平超声探测面(8)进行水平扫描，得到扫描位置信息与超声检测信号相对应的二维平面C扫描图像，确定图像中的缺陷信号位置，利用水浸超声C扫描检测系统的缺陷回找功能将探头(5)的声束(6)定位至水平超声探测面(8)上方与缺陷信号相对应的位置处，记录探头(5)的声束(6)在该位置处的X、Y坐标值X’、Y’，将该坐标值与基准X0、Y0相减，取差值ΔX、ΔY分别作为缺陷信号位置相对被检材料(7)上两个竖直面(9)的距离，进一步从超声探伤单元读取缺陷相对超声探测面(8)的埋深，将该埋深与ΔX、ΔY相组合构成缺陷在被检材料中的三维空间位置坐标。