[发明专利]连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪

权利要求书

1.一种连续衍射分光与探测装置，其特征在于：包括：

第一轨道，用于弯曲晶体在其上顺序移动，其起点位置为X射线入射狭缝；

第二轨道，用于X射线探测器狭缝在其上顺序移动，其起点位置和弯曲晶体在第一轨道上耦合；

固定杆，用于固定弯曲晶体，其起点位置设有弯曲晶体，另一端与第一支臂、第二支臂耦合；

第一支臂，连接于第一轨道的起点位置与固定杆的端点位置；

以及

第二支臂，连接于第二轨道的X射线探测器狭缝位置与固定杆的端点位置；

第一支臂、第二支臂和固定杆于固定杆的端点位置三者耦合，第一支臂、第二支臂和固定杆的长度相同，均为弯曲晶体的曲率半径；

随着弯曲晶体在第一轨道上顺序移动，相对应的，X射线探测器狭缝在第二轨道上顺序移动，并且第一支臂与固定杆间的夹角、第二支臂与固定杆间的夹角始终保持相等；

第一轨道上设有用于带动弯曲晶体顺序移动的第一滑块，第一滑块由第一电机驱动，所述电机为丝杆电机；

第一滑块上设有第三支臂，其固定点位于第一滑块上，第三支臂的另一端可移动地连接于固定杆上，第三支臂在第一滑块上的固定点至弯曲晶体的距离与第三支臂的长度相等；

第二轨道上设有第四支臂，其固定点位于第二轨道起点位置与X射线探测器狭缝位置之间，第四支臂的另一端可移动地连接于固定杆上，第四支臂在第二轨道上的固定点至弯曲晶体的距离与第四支臂的长度相等；

第三支臂、第四支臂的长度相等，且两者的端点共同耦合于固定杆上。

2.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：第三支臂、第四支臂的端点在固定杆上耦合的位置设有第三滑块，用于带动第三支臂、第四支臂的端点在固定杆上顺序移动。

3.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：弯曲晶体位置设有弯曲晶体托架，用于承托弯曲晶体，所述弯曲晶体托架与固定杆一体式设计或者耦合为一体。

4.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：所述第一支臂、第二支臂的长度为1mm-1000mm。

5.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：所述的弯曲晶体为LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PET、TAIP、TAM、ADP、KAP、InSb、E.D.D.T、PE、石膏或黄玉。

6.一种顺序式分析X射线荧光光谱仪，包括X射线激发源、样品室、分光测量室和探测器，其特征在于：分光测量室内设置有根据权利要求1至5中任一项所述的连续衍射分光与探测装置，激发源的X射线照射样品后，激发的次级X射线进入所述的X射线入射狭缝；探测器经所述的X射线探测器狭缝接收曲面晶体衍射的X射线进行分析。