[发明专利]基于半角宽度的布里渊散射频移的测量方法

权利要求书

1.基于条纹半角宽度的布里渊散射频移的测量方法，其特征在于，布里渊信号光经过法布里——帕罗标准具汇聚进入ICCD成像仪，得到干涉环；取过圆心的截面进行分析，截出条纹半角进行分析，得到布里渊散射频移计算公式为：

$\begin{array}{c}{f}_1-f_2=\frac{c}{{\mathrm{\λ}}_1}-\frac{c}{{\mathrm{\λ}}_2}=c\left(\frac{{\mathrm{\λ}}_2-{\mathrm{\λ}}_1}{{\mathrm{\λ}}_1{\mathrm{\λ}}_2}\right)\\ =c\left(\frac{\frac{\arctan \frac{r_2}{L_2}}{\arctan \frac{r_1}{L_1}}{\mathrm{\λ}}_1-{\mathrm{\λ}}_1}{\frac{\arctan \frac{r_2}{L_2}}{\arctan \frac{r_1}{L_1}}{\mathrm{\λ}}_1^2}\right)\\ =c\left(\frac{\arctan \frac{r_2}{L_2}-\arctan \frac{r_1}{L_1}}{{\mathrm{\λ}}_1\arctan \frac{r_2}{L_2}}\right)\end{array};$

其测量步骤如下：

1)确定经过干涉环圆心的线；

2)在干涉环上取一条初始线段，选取落在初始线段布里渊环上两侧的主极大的点，标记为C₁和C₂，得到C₁C₂线段；并在初始线段上标记出同级的瑞利环上主极大的D₁和D₂，得到D₁D₂线段；

3)利用ICCD成像仪读取像素的长度，并分别求出C₁C₂线段和D₁D₂线段的中点；

4)作平行于线段D₁D₂的过渡线段，并用步骤2)和步骤3)的方法进行标记，求出过渡线段的中点，并将过渡线段的中点连起来，即为经过圆心的直线，设为l；

5)选取C₂点所在的布里渊环，利用ICCD成像仪测定2r₁和2r₂的长度；

6)确定经过圆心的直线l以后，在靠近中心亮点的第j级瑞利干涉环上，选取落在直线l上主极大强度一半的两个点E₁和E₂，E₁E₂线段即为2r₁；

7)按照步骤6)选取落在直线l上主极大强度一半的两个点F₁和F₂，在同级布里渊干涉环上F₁F₂即为2r₂；

8)测出凸透镜到条纹主极大的距离L₁和L₂；

9)计算出布里渊散射频移f₁-f₂。

2.根据权利要求1所述的基于条纹半角宽度的布里渊散射频移的测量方法，其特征在于，所述平行于线段D₁D₂的过渡线段至少为二条。