[发明专利]一种灰度增强层析PIV重构方法、装置和设备有效
申请号: | 201510110129.2 | 申请日: | 2015-03-12 |
公开(公告)号: | CN104680564B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 高琪;王洪平;王晋军;魏润杰 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学;魏润杰 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人: | 高洁,姚开丽 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 灰度 增强 层析 piv 方法 装置 设备 | ||
技术领域
本发明涉及基于灰度增强的层析粒子图像测速技术,尤其涉及一种灰度增强层析粒子图像测速(Particle Image Velocimetry,简称PIV)重构方法、装置和设备。
背景技术
PIV是一种现代激光测速技术,主要运用于流场速度测量,通过追踪示踪粒子在流场中的运动来得到速度场。最近兴起的层析粒子图像测速技术(层析PIV)成功地将二维PIV推广到三维流场测量,能够获得瞬时的三维三分量(3D3C)的速度场。该技术通过不同视角下(一般为4个相机)粒子散射成像重构出空间粒子的真实分布,然后采用三维互相关计算相邻曝光粒子间的位移。空间粒子重构是该方法的关键。
层析PIV的相机布置如图1所示,其中相机为‘┼’字型布置。空间测量体E中的示踪粒子被激光照亮以后按照投影关系同时成像在四个不同视角的相机之上。投影成像的粒子灰度一般呈高斯分布,大小与示踪粒子大小和散射强度有关,一般占3×3像素。从测量空间到相机平面的投影关系可以事先标定得到,映射函数决定了粒子之间的相对位置。如果将空间测量体E离散成和像素(pixel)大小相当的体素(voxel),投影成像可以简化成一系列线性方程组:
WE=I (1)
即假设粒子图像是空间粒子灰度沿视线投影积分的结果。其中W为投影权重函数,Wij表示第j个体素对第i个像素的贡献,该贡献与投影距离有关,距离越小贡献越大。空间灰度重构可以认为是一个逆投影过程,就是已知粒子图像I和权重函数W求空间灰度分布E。由于离散的体素个数远远大于已知的像素个 数,所以该逆问题存在不定解。为了求解该方程组,需要额外添加约束条件。目前,主流的层析PIV都采用基于熵最大的倍增代数重构技术(multiplicative algebraic reconstruction technique,MART)对粒子场进行重构还原。该方法被证明是当前最适合层析PIV重构的,该方法迭代收敛速度快,重构的精度较高,其迭代公式可简单表述为:
Ek+1=Ek(I/WEk)uW (2)
其中,k代表迭代次数,I/WEk代表对投影误差的评估,空间灰度E会根据误差的大小不断逼近最优解。
然而,在实际的使用中发现,重构精度会受到相机个数与视角,粒子浓度和映射函数精度等因素的影响,出现粒子拉长和虚假粒子两个非常棘手的问题。所谓粒子拉长,是指层析PIV在理想情况下重构出来应该是高斯分布的球形粒子,正如平面PIV中的粒子服从高斯分布一样。但由于相机视角以及个数原因,投影灰度并不能完全反应粒子的空间形状,导致了在相机轴线方向(测量体厚度方向)粒子被拉长。
此外,虚假粒子也是层析PIV重构面临的一个难点。图像采集实际上是一个投影积分过程,空间连续的粒子灰度被映射到离散的平面图像之上。MART算法就是希望通过这样的欠采样图像重构出空间粒子灰度分布,这是反投影过程。由于可利用的粒子位置信息有限,导致在所有相机视线的交点处都可能出现粒子,但是这个粒子是否真实存在就不得而知。
通过上面的分析可知,层析PIV方法中的MART算法并没有利用粒子形状、灰度等许多有用的信息,导致了其自身更新速度很慢,甚至不正确。
发明内容
为解决现有存在的技术问题,本发明实施例提供一种灰度增强层析PIV重构方法、装置和设备。
本发明实施例提供了一种灰度增强层析粒子图像测速(PIV)重构方法,该方法包括:
A、在完成倍增代数重构技术MART迭代后,统计空间灰度场中的粒子拉长比;
B、依据所述粒子拉长比确定逆扩散强度因子,并依据所述逆扩散强度因子和逆扩散方程更新所述空间灰度场;
C、依据统计得到的粒子浓度计算灰度抑制因子,并依据所述灰度抑制因子对所述已更新的空间灰度场的粒子灰度进行重新分配;
之后进行下一次MART迭代。
其中,所述统计空间灰度场中粒子拉长比,包括:
在空间灰度场中采用局部峰值的方法识别粒子,并对这些粒子的灰度做统计平均得到所有粒子灰度的平均结果;对该结果进行三维高斯拟合,得到所述空间灰度场各方向的高斯拟合的标准差,依据所述标准差计算所述粒子拉长比。
其中,所述三维高斯拟合按照如下公式进行:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学;魏润杰,未经北京航空航天大学;魏润杰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510110129.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于三维点云的隧道监测六维坐标系
- 下一篇:一种全方向M型心动图检测方法