[发明专利]一种射频变容器的统计建模方法有效
申请号: | 201510111705.5 | 申请日: | 2015-03-13 |
公开(公告)号: | CN104679960B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 刘林林;郭奥 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射频 容器 统计 建模 方法 | ||
1.一种射频变容器的统计建模方法,所述射频变容器分布于晶圆的晶粒上,其特征在于,包括以下步骤:
步骤01:确定用于器件建模的子电路拓扑结构,确定所述子电路中每一个电路元件使用的可伸缩性公式,以用于不同尺寸器件的建模,从而确定器件建模需要抽取的所有模型参数;
步骤02:对参数进行分类,分为基本参数群,与外加偏置相关的参数群,与器件尺寸相关参数群,以及与工艺波动无关的参数群;
步骤03:基于射频建模要求,对器件进行散射参数测试,首先选择部分关键尺寸器件进行散射参数的mapping测试,即对所有晶粒内的所选尺寸器件都进行散射参数测试,分析散射参数的mapping测试数据,得到器件散射参数在整个晶圆上的波动特性,通过观察不同工作频率下的散射参数分布,不同外加偏置下的散射参数分布,散射参数不同分量的分布,确定所述测试数据中具有波动性或离散性的特征数据部分;
步骤04:对所有晶粒内的上述特征数据计算平均值,选出所测器件的特征数据最靠近该平均值所对应的晶粒为最佳晶粒golden die,并测试该最佳晶粒golden die内所有待测器件的散射参数,以该最佳晶粒golden die的器件测试数据为拟合目标,抽取所述步骤01中的所述模型参数,建立器件的不包含工艺波动的基准模型;
步骤05:基于所述特征数据部分的散射参数以及由散射参数转换而来的网络参数,构造用于器件进行统计建模的一个或一组指标;
步骤06:基于上述指标和步骤04中的基准模型,计算子电路模型中各元件值,并进行元件值相对于指标值的灵敏度分析并排序,然后选取灵敏度最高的元件;
步骤07:基于所选取的元件,对所述步骤02中的所述元件可伸缩公式中的各类参数群,分别进行参数值相对于元件值的灵敏度分析并排序,选取灵敏度最高的参数;
步骤08:基于所选取的参数,拟合器件的统计特性分布,从而得到用于表征器件全局波动分布的统计模型。
2.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤03中,所述的具有波动性或离散性的特征数据部分为:所述测试数据在不同晶粒内的最大值与最小值之差与所述最小值之比大于由建模需求所设定的波动阈值的特征数据部分。
3.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤05中,所述指标能够反映器件在射频工作条件下的特性;所述特性包括有效电容值。
4.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤06中,进行元件值相对于指标值的灵敏度分析并排序,具体包括:在所述元件值附近,比较所有元件由元件值的相同变化比例所引起的步骤05中指标变化的比例大小并排序。
5.根据权利要求4所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤06中,当选取灵敏度最高的元件时,所选取的灵敏度最高的元件数量为达到拟合目标所需的最少元件数量。
6.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤07包括:分别对基本参数群、偏置相关参数群、器件尺寸相关参数群进行灵敏度分析并排序。
7.根据权利要求6所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤07包括:当选取灵敏度最高的参数时,所选取的灵敏度最高的参数数量为达到拟合目标所需的最少参数数量。
8.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤08中,所采用的拟合方法为对所选参数添加统计函数并调整统计函数相关参数。
9.根据权利要求8所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述步骤08中的拟合过程具体包括:首先,针对由器件尺寸减小带来的非理想效应最小的器件无外加偏置时的指标,使用所述步骤07中所选取的基本参数群中的灵敏度最高的参数进行拟合;然后,观察器件外加偏置时的指标统计特性是否满足拟合要求,如未满足,继续添加使用所述步骤07中所选取的偏置相关参数群中的灵敏度最高的参数进行拟合;接着,观察不同尺寸器件的指标统计特性是否满足拟合要求,如未满足,继续添加使用所述步骤07中所选取的器件尺寸相关参数群中的灵敏度最高的参数进行拟合;完成上述拟合过程,即得到用于表征器件全局波动分布的统计模型。
10.根据权利要求1所述的射频变容器的统计建模方法,其特征在于,所述射频变容器为MOS变容器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510111705.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。