[发明专利]一种IC卡封装装置和方法有效
申请号: | 201510114551.5 | 申请日: | 2015-03-16 |
公开(公告)号: | CN104733358B | 公开(公告)日: | 2017-11-28 |
发明(设计)人: | 罗长兵;陈晋杰;高强;刘源海 | 申请(专利权)人: | 鸿博股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/50 |
代理公司: | 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙)35219 | 代理人: | 林祥翔,吕元辉 |
地址: | 350002 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ic 封装 装置 方法 | ||
1.一种IC卡封装装置,用于封装IC卡芯片和塑料卡基,其特征在于,所述IC卡封装装置包括传送装置、动力装置、封装平台、热压装置、冷压装置与负压装置;
所述封装平台上设置有与IC卡大小相适配的卡槽,卡槽底部设置有吸附孔隙,所述传送装置带动封装平台运动,所述热压装置与冷压装置沿封装平台运动方向顺序设置;
所述热压装置包括热压头,热压头位于封装平台的上方,热压头中设置有加热装置,所述加热装置用于软化IC卡的塑料卡基,所述热压头与动力装置传动连接,并驱动热压头向封装平台方向往复运动,以热压卡槽中的IC卡;
所述冷压装置包括冷压头,冷压头位于封装平台上方,所述冷压头与动力装置传动连接,并驱动冷压头向封装平台方向往复运动,以冷压卡槽中的IC卡;
所述负压装置与吸附孔隙连通,吸附孔隙以负压吸附位于冷压头下方的封装平台的卡槽上的IC卡的塑料卡基;所述卡槽底部在IC卡的塑料卡基对应IC卡芯片的位置设置有吸附孔隙;所述吸附孔隙的数量为两个以上,且均匀分布于卡槽的底面。
2.根据权利要求1所述的IC卡封装装置,其特征在于,所述热压头的数量为两个,包括第一热压头和第二热压头;所述冷压头的数量为两个,包括第一冷压头和第二冷压头;所述第一热压头、第二热压头、第一冷压头与第二冷压头沿封装平台运动方向设置。
3.根据权利要求1所述的IC卡封装装置,其特征在于,所述吸附孔隙的形状为圆形,椭圆形或长条形。
4.根据权利要求3所述的IC卡封装装置,其特征在于,所述吸附孔隙的形状为圆形,吸附孔隙的直径为0到1毫米,相邻的吸附孔隙之间圆心的距离为2.5到3毫米。
5.一种IC卡封装方法,其特征在于,所述IC卡包括塑料卡基与IC卡芯片,所述塑料卡基上开设有与IC卡芯片相适配的芯片槽,所述IC卡芯片置于芯片槽上,IC卡中设置有IC卡芯片的一面朝向热压头;所述方法包括以下步骤:
将IC卡置于封装平台上的卡槽中,热压头对卡槽中的IC卡施加压力,并加热卡槽中IC卡的塑料卡基使之软化,将IC卡芯片与软化状态下的塑料卡基热压为一体;
传送装置带动封装平台运动,将封装平台的卡槽传输至冷压头下方;
冷压头对卡槽中的IC卡施加压力,设置于卡槽底部的吸附孔隙与负压装置相连通,吸附位于冷压头下方的卡槽中的IC卡的塑料卡基,吸附孔隙以负压吸附IC卡的塑料卡基时,包括对塑料卡基中设置IC卡芯片对应的位置进行吸附;所述吸附孔隙的数量为两个以上,且均匀分布于卡槽的底面。
6.根据权利要求5所述的IC卡封装方法,其特征在于,所述热压头加热卡槽中IC卡的塑料卡基使之软化的温度为150℃到250℃。
7.根据权利要求5所述的IC卡封装方法,其特征在于,设置于卡槽底部的吸附孔隙对卡槽中的IC卡的塑料卡基施加的负压大小为4~8.5MPA。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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