[发明专利]一种新型交流电源检测装置在审
申请号: | 201510121287.8 | 申请日: | 2015-03-19 |
公开(公告)号: | CN104777436A | 公开(公告)日: | 2015-07-15 |
发明(设计)人: | 易健;顾超峰;王孟军 | 申请(专利权)人: | 东菱技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/42 | 分类号: | G01R31/42 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 周兵 |
地址: | 314100 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 交流 电源 检测 装置 | ||
技术领域
本发明涉及交流电输入监测装置领域,具体地说,特别涉及到一种应用于交流伺服驱动器的涉及单相、三相交流输入电源缺相和掉电的监测装置。
背景技术
输入电源检测频繁应用于仪器仪表与自动化装置中,是提高系统可靠性的一种技术手段。它能够及时捕获系统供电交流电源的掉电、缺相事件,触发微处理器动作,以便将重要的数据保存到非易失性存储器中或者发成相关报警信号,提示用户,避免电源接线故障,从而有效提高系统的可用性。
传统的掉电检测方法一般有两种。
第一种是检测整流后的直流电压幅值变化,当直流电压的幅值降到系统给定的门限电压后,MCU认为系统发生掉电事件。该方法尽管能够实现掉电检测,但由于检测电路中含有滤波电容,直流电压下降需要一定的时间,从而导致系统的反应慢。
第二种是输入电源每两相之间串联限流电阻和光耦,如果要监测单相、三相相电源的缺相和掉电,需要3个光耦,每个光耦输出一个信号,共3个信号,需要3个MCU引脚输入处理,而3个光耦成本较高,可靠性也有一定降低。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术中的不足,提供一种新型交流电源检测装置,以解决上述问题。
本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:
一种新型交流电源检测装置,包括
第一限流部,用于对每相输入的电源限流;
整流部,用于对每相输入的电源半相整流;
第二限流部,用于对半相整流后的合成电源限流;
输出部,用于将整流后的合成电源流过光耦的发光二极管端,光耦输出端产生监测信号到信号监测装置;
信号处理部,用于将光耦的输出信号输入到MCU,MCU采集此信号的高低电平周期,判断电源输入情况。
进一步的,在所述交流电源的输入端分别设有限流电阻R1/R2/R3进行限流,防止由于电压波动导致的电流过大而损坏二极管D1/D2/D3以及光耦PC1;限流后的每相电源经过二极管得到输入电源的正半波;每相正半波电源合成后在经过电阻R4再次限流至光耦PC1能接受的电流;当R4有电流流过时,光耦PC1导通,Vout电压为低,当无电流时,光耦PC1关断,Vout电压为高。
进一步的,所述光耦输出Vout信号处理如下:监测装置监测Vout的低电平时间,根据低电平时间判断电源有无输入、输入是单相还是三相。
与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
结构简单,设计巧妙,具有响应时间快、抗干扰能力强、成本低、可靠性高等优点。
附图说明
图1为本发明所述的检测装置的电路监测原理图。
图2为本发明所述的单相交流电源输入的电路监测原理图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本发明。
参见图1和图2,本发明所述的一种新型交流电源检测装置,主要包括限流部1,用于对输入的电源进行限流;整流部,用于对AC电压进行整流;限流部2,用于对整流后的电源再次限流;输出部,使用光耦输出AC监测信号;信号处理部,使用MCU完成光耦输出信号的监测。
在所述每相交流电源输入的正半波,交流电源限流、分压后的电压高于光耦输入端的工作电压时,光耦导通,输出电压Vout输出低电平;当所述交流电源电压低于光耦输入端的工作电压时,光耦截止,输出电压Vout通过限流电阻R5接直流电源Vcc,输出高电平。
本发明所述新型交流电源检测装置的检测方法包括如下步骤:
微处理器使用普通I/O监测输入信号Vout,设置20ms的监测周期,如果20ms内未出现低电平,则表明没有电源输入,交流电已经掉电。在20ms内如果低电平周期小于T1,则表明是单相电源输入,如果应用为三相输入,则为输入电源缺相;如果低电平周期大于T1,小于T2,则表明是三相电源输入。时间T1、T2为根据输入电源和电阻R1、R2、R3、R4选择后的实测门限。如在220V和380V下,R1、R2、R3、R4需选择不同的阻值;当只监测单相交流电源输入时,上述监测方法和电流同样适用。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
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