[发明专利]一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法在审
申请号: | 201510121795.6 | 申请日: | 2015-03-19 |
公开(公告)号: | CN104714215A | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 易伟;卢术平;宋海洋;姜海超;崔国龙;孔令讲;杨晓波;杨建宇 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/292 | 分类号: | G01S7/292;G01S7/35 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 张杨 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 强度 分区 恒虚警 检测 方法 | ||
1.一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,该方法包括以下步骤:
S1、获得雷达探测区域的杂波后向散射系数值;
S11、初始化雷达参数:雷达坐标、雷达相对地面高度h、雷达载频f;
S12、根据现有资料获取雷达探测区域的地形分类,包括农田、树林、高山、城市、沙漠、沼泽等,并对各地形进行编号;
S13、获得擦地角α,α表示雷达视线与水平线之间的夹角;
S14、获得坡度,坡度表示雷达坡面与待检测单元水平面之间的夹角;
S15、获得雷达探测区域的照射区,判断各区域能否被雷达照射到;
S16、利用上面得到的参数,雷达频率、地形分类、擦地角、坡度以及照射区类型,并结合林肯实验室RCS后向散射系数模型,获得探测区域的杂波后向散射系数值;对雷达照射不到的阴影区域,杂波后向散射系数值置为-55dB;
S2、杂波强度分区阶段,对S1中得到的杂波后向散射系数值进行大小划分,划分种类数和划分门限都对最后的检测有一定的影响;这里我们利用穷举法获得的两个门限σ1和σ2,将探测区域划分为三类:大于σ2为高杂波区域(H)、小于σ1为低杂波区域(L)、其他中杂波区域(M);
S3、恒虚警检测阶段,步骤为:
S31、选取参考单元,确定恒虚警检测的参考单元数n,然后利用S2中的分区结果,选取n个与待检测单元临近的同分区的单元为参考单元,若同分区的单元数不够n个,就选取最临近的其他区单元补充;
S32、利用选取的参考单元数据及与待检测单元杂波统计特性匹配的传统CFAR检测器进行目标检测。
2.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤S13中采用如下公式获得擦地角α:
其中,h为雷达高度,r为雷达到待检测单元的距离,a为地球有效半径,等于实际地球半径的4/3倍。
3.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤 S14采用如下公式获得坡度:
其中,hi,j表示待检测单元(i,j)的高程值,D表示单元(i,j)的长度。
4.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤S15获得雷达探测区域的照射区的具体方法为:对于待判断单元,从雷达到待判断单元之间有一条射线,遍历待判断单元和雷达之间的所有单元,如果它们的高度都低于这条射线,那么待判断单元属于照射区域。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学;,未经电子科技大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510121795.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。