[发明专利]一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法在审

专利信息
申请号: 201510121795.6 申请日: 2015-03-19
公开(公告)号: CN104714215A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 易伟;卢术平;宋海洋;姜海超;崔国龙;孔令讲;杨晓波;杨建宇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01S7/292 分类号: G01S7/292;G01S7/35
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 张杨
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 强度 分区 恒虚警 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,该方法包括以下步骤:

S1、获得雷达探测区域的杂波后向散射系数值;

S11、初始化雷达参数:雷达坐标、雷达相对地面高度h、雷达载频f;

S12、根据现有资料获取雷达探测区域的地形分类,包括农田、树林、高山、城市、沙漠、沼泽等,并对各地形进行编号;

S13、获得擦地角α,α表示雷达视线与水平线之间的夹角;

S14、获得坡度,坡度表示雷达坡面与待检测单元水平面之间的夹角;

S15、获得雷达探测区域的照射区,判断各区域能否被雷达照射到;

S16、利用上面得到的参数,雷达频率、地形分类、擦地角、坡度以及照射区类型,并结合林肯实验室RCS后向散射系数模型,获得探测区域的杂波后向散射系数值;对雷达照射不到的阴影区域,杂波后向散射系数值置为-55dB;

S2、杂波强度分区阶段,对S1中得到的杂波后向散射系数值进行大小划分,划分种类数和划分门限都对最后的检测有一定的影响;这里我们利用穷举法获得的两个门限σ1和σ2,将探测区域划分为三类:大于σ2为高杂波区域(H)、小于σ1为低杂波区域(L)、其他中杂波区域(M);

S3、恒虚警检测阶段,步骤为:

S31、选取参考单元,确定恒虚警检测的参考单元数n,然后利用S2中的分区结果,选取n个与待检测单元临近的同分区的单元为参考单元,若同分区的单元数不够n个,就选取最临近的其他区单元补充;

S32、利用选取的参考单元数据及与待检测单元杂波统计特性匹配的传统CFAR检测器进行目标检测。

2.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤S13中采用如下公式获得擦地角α:

其中,h为雷达高度,r为雷达到待检测单元的距离,a为地球有效半径,等于实际地球半径的4/3倍。

3.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤 S14采用如下公式获得坡度:

其中,hi,j表示待检测单元(i,j)的高程值,D表示单元(i,j)的长度。

4.如权利要求1所述的一种基于杂波强度分区的恒虚警检测方法,其特征在于所述步骤S15获得雷达探测区域的照射区的具体方法为:对于待判断单元,从雷达到待判断单元之间有一条射线,遍历待判断单元和雷达之间的所有单元,如果它们的高度都低于这条射线,那么待判断单元属于照射区域。

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