[发明专利]一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法

权利要求书

1.一种在离子阱质量分析器中进行高效快速分析的方法，其特征在于：

仅用一个离子共振逐出阶段，实现整个离子阱质量分析器工作过程，具体步骤如下：

在离子共振逐出阶段，施加对称波形的射频工作电压信号，离子在离子阱射频工作电压产生的电场作用下，通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中；

在数字方波驱动离子阱工作模式下，扫描数字射频工作电压的频率和快速调节离子阱质量分析器前后端盖电极上的工作电压，在扫描过程中施加偶极激发电压信号，离子在偶极激发电压的作用下，发生共振激发，最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出，被安置在离子阱外的离子探测器检测获得离子的质谱信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在离子共振逐出阶段，所施加的离子射频电压信号波形是数字方波或者正弦波，或者其它形式的波形。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在所述离子共振逐出阶段中，通入离子阱内的冷却气体为中性气体。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：在所述离子共振逐出阶段，射频工作电压与偶极共振激发电压频率比值为任意值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述离子阱质量分析器为任何四极离子阱质量分析器，包括三维离子阱，二维线形离子阱，或者其它任何几何形状的离子阱质量分析器。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述离子阱质量分析器既可以实现传统离子阱的离子存储，质量分析，串级质谱分析功能，又可以和四极杆质量分析器一样进行样品的快速分析。