[发明专利]光伏组件电性能测试方法有效
申请号: | 201510128526.2 | 申请日: | 2015-03-23 |
公开(公告)号: | CN104701208B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 蒋孝山;范宝朋;冯文生 | 申请(专利权)人: | 常州天合亚邦光能有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所32225 | 代理人: | 孙彬,芮雪萍 |
地址: | 213161 江苏省常州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 组件 性能 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光伏组件电性能测试方法,属于光伏测试技术领域。
背景技术
目前,太阳能作为一种清洁能源近年来得到了极大关注,光伏制造商、研究者们力图通过工艺技术优化、生产过程改善不断提升光伏产品性能与质量。
光伏产品的电性能测试,是产品生产中确认产品性能质量的必经环节。如何精确、方便、无损、快速地完成测试,是光伏产品制程中的重要课题。
目前光伏产品的电性能测试主要有两种方式:一种是传统的在组件完成装框、硅胶固化完全后,通过太阳模拟器进行测试;另一种是在组件装框前,对层压件进行电性能测试,确认产品性能达标后再通过太阳模拟器进行测试。公开号为CN 102866344 A的中国专利公开了一种光伏组件测试方法及装置,其中测试方法相比传统的后测试法,此法可以先行确认产品质量,以免测出不合格品后再将组件拆框返工或报废,导致原材料和工时的浪费,从而提升制程效率。但是,此发明中,将未装框的组件,即“层压件”简单放置于传输链上进行操作,层压件因无边框支撑而易产生较大变形,从而导致电性能测试结果的不准确,并且给产品带来电池片隐裂的风险。传输链的宽度还可能阻挡光线均匀分布到产品全表面,从而影响测试结果的准确性。同时,此发明中采用探针连接组件,同样会对未装框的层压件造成破片隐裂危险。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种光伏组件电性能测试方法,它不仅能够实现光伏组件电性能的无损和快速测试,避免光伏组件隐裂破片的现象,而且能够提高光伏组件电性能测试的准确性。
为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是:一种光伏组件电性能测试方法,该方法设置在光伏组件装边框前,该方法的步骤如下:
a)驱动光伏组件至测试位;
b)在测试位上调整光伏组件的水平度,使光伏组件的受光面处于水平状态,并确保该光伏组件的受光面与标准片的受光面在同一高度上;
c)从光伏组件的受光面侧通过一太阳模拟器对光伏组件的受光面照射模拟光线,并避免光伏组件的受光面侧被遮挡,然后采用引出线测试夹具从光伏组件的背光面侧分别夹持光伏组件的正极引出线和负极引出线,从而对光伏组件进行电性能测试。
进一步,在步骤a)中,采用光伏组件支撑轨道组件驱动光伏组件至测试位;所述的光伏组件支撑轨道组件包括呈对称设置的左支撑轨道组件和右支撑轨道组件,左支撑轨道组件和右支撑轨道组件均包括水平伸缩动力件和支撑轨道,水平伸缩动力件固定设置,并且水平伸缩动力件的活动杆端与支撑轨道相连接,两个支撑轨道分别抵接在光伏组件的两端,当水平伸缩动力件的活动杆端同时动作时,所述的支撑轨道作相向运动。
进一步,在步骤b)中,采用多个定位吸盘组件来调整光伏组件的水平度和高度。
进一步,在步骤c)中,引出线测试夹具具有支撑架,并且支撑架上设置有两个引线夹持装置,其中一个引线夹持装置用于夹持光伏组件的正极引出线,另一个引线夹持装置用于夹持光伏组件的负极引出线,所述引线夹持装置包括:
头架;
两个夹紧组件,两个夹紧组件均铰接在头架上;
活动缸,所述活动缸安装在支撑架上,并且活动缸的活动杆端与两个夹紧组件的后端相铰接以便活动缸动作时带动两个夹紧组件的前端作相向运动;
两个导电测试夹块,导电测试夹块分别固定连接在相对应的夹紧组件的内侧,并且两个导电测试夹块相配合以便两者之间夹持引出线。
进一步为了使夹持摩擦力增大,使夹持牢固,使接触电阻显著减小,保证电性能测试的准确性,导电测试夹块的内表面上设置有多个凸点。
进一步,所述的导电测试夹块通过螺钉固定在相对应的夹紧组件上,并且螺钉和导电测试夹块的内表面相对应的钉头表面也设置有凸点。
进一步,导电测试夹块由银材质制成。
采用了上述技术方案后,先放置准备进行电性能测试的光伏组件,使其位于测试位上,再调节光伏组件的水平度和其高度,使其与已装框的标片平面保持高度一致,并完全无遮挡的电性能测试,引出线测试夹具从光伏组件背面对上料的待测光伏组件的引出线正负极进行自动夹持,这样就实现了光伏组件电性能的无损与快速测试,提高了其测试精确性。
附图说明
图1为本发明方法进料时的装置结构示意图;
图2为本发明方法测试时的装置结构示意图;
图3为图2 的俯视图;
图4为本发明的引出线测试夹具的立体图;
图5为本发明的导电测试夹块的装配图;
图6为本发明的引线夹持装置的结构示意图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州天合亚邦光能有限公司,未经常州天合亚邦光能有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510128526.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造