[发明专利]傅里叶变换光谱仪的复数谱多点辐射定标方法

说明书

技术领域

本发明涉及光电标定技术领域，特别是指一种适用于傅里叶变换光谱仪的复数谱多点辐射定标方法。

背景技术

傅里叶变换光谱仪是以双光束干涉测量为基础，利用傅里叶变换原理实现光谱测量的仪器设备。傅里叶变换光谱仪由于具有高信噪比、高分辨率、快速测量等优点，在化工、地质、医药、环境、气象、军事、空间技术等领域取得了广泛的应用。现有的傅里叶变换光谱仪实际测量得到的是入射光的干涉图。在理想状态下，干涉图是对称的，且通过干涉图可以经过傅里叶变换可以得到实数谱。但是实际中由于仪器误差、环境干扰等因素的影响，干涉图并不对称，导致光谱仪测量值为复数。

目前传统的光谱数据辐射定标方法多基于实数光谱，通常是对复数数据进行实数化处理(如取实部或者幅度值)，或是先相位校正然后实数化处理。这样的处理方法会产生一定的误差，特别是对于相位偏差较大的数据误差更为显著。

发明内容

针对现有技术中的傅里叶变换光谱仪的存在的问题，本发明要解决的技术问题是提供一种适用于傅里叶变换光谱仪的复数谱多点辐射定标方法，以获取更优的定标精度。

为了达到上述目的，本发明实施例提出了一种傅里叶变换光谱仪复数谱多点辐射定标方法，包括：

步骤1：分别获取傅里叶变换光谱仪的n个温度点对应的测量电压值其中n≥2；

步骤2：通过以下公式确定每一温度点的光谱辐亮度L_i(v)：

L(v)=ϵ·C1v3exp(C2v/T)-1]]>

其中ε为所述每一温度点的黑体发射率，第一辐射常数C₁＝1.1910×10^-12(W·cm²)，第二辐射常数C₂＝1.4387(K·cm)，T为所述每一温度点的黑体温度；

步骤3、通过最小二乘法min{Σi=1n[M-i(v)-G-(v)·Li(v)-O-(v)]2}]]>求解，以得到傅里叶变换光谱仪在各波数v下的实际线性增益和实际偏移量