[发明专利]一次编程的记忆胞及其阵列结构与操作方法有效

专利信息
申请号: 201510133013.0 申请日: 2015-03-25
公开(公告)号: CN105280644B 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 吴孟益;陈信铭 申请(专利权)人: 力旺电子股份有限公司
主分类号: H01L27/112 分类号: H01L27/112;G11C17/04
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 王珊珊
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 一次 编程 记忆 及其 阵列 结构 操作方法
【权利要求书】:

1.一种阵列结构的操作方法,该阵列结构包括:

第一一次编程的记忆胞,包括:

第一晶体管,具有漏极,源极连接至第一位线,以及栅极连接至第一字线;

第一变容器,具有第一端连接至该第一晶体管的该漏极,第二端连接至第一编程线;以及

第二变容器,具有第一端连接至该第一晶体管的该漏极,第二端连接至第二编程线;以及

第二一次编程的记忆胞,包括:

第二晶体管,具有漏极,源极连接至该第一位线,以及栅极连接至第二字线;

第三变容器,具有第一端连接至该第二晶体管的该漏极,第二端连接至第三编程线;以及

第四变容器,具有第一端连接至该第二晶体管的该漏极,第二端连接至第四编程线,

该阵列结构的操作方法包括下列步骤:

进入第一次编程周期,将该第一一次编程的记忆胞中的该第一变容器改为第一电阻器;

进入确认周期,读取该第一一次编程的记忆胞所产生的第一读取电流,并判断该第一一次编程的记忆胞是否为失败记忆胞;以及

在确认该第一一次编程的记忆胞为该失败记忆胞时,进入第二次编程周期,将该第一一次编程的记忆胞中的该第二变容器改为第二电阻器。

2.如权利要求1所述的阵列结构的操作方法,其中,当该第一读取电流小于参考电流时,确认该第一一次编程的记忆胞为该失败记忆胞。

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