[发明专利]一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置及方法在审
申请号: | 201510141022.4 | 申请日: | 2015-03-27 |
公开(公告)号: | CN104833429A | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 郝小鹏;宋健;原遵东;刘曾林;许敏 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 控制 背景 辐射 黑体 发射 测量 装置 方法 | ||
1.一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置,其包括:
一待测黑体;
一热辐射环,所述热辐射环位于所述待测黑体的开口一侧;
一红外辐射温度计,所述红外辐射温度计测量采集到的辐射信号,其特征在于:
在所述热辐射环与所述红外辐射温度计之间设置有水冷光阑,所述水冷光阑用于降低杂散辐射。
2.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置,其特征在于:在所述待测黑体的外侧具有恒温水冷套。
3.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置,其特征在于:在所述待测黑体的腔底的后部设置有温度计,用对测量所述待测黑体的温度。
4.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置,其特征在于:在所述热辐射环上具有加热膜。
5.一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量方法,其采用如权利要求1-4的测量装置,其特征在于:
至少提供黑体、热辐射环、红外辐射温度计;
步骤(1)保持黑体和热辐射环处于预定温度状态,红外辐射温度计测量黑体辐射亮度温度值,同时采集黑体和热辐射环温度传感器的信号;
步骤(2)将热辐射环从黑体前端移开,开始加热热辐射环到高于黑体的温度;
步骤(3)将热辐射环移动到黑体前部,辐射温度计测量黑体辐射亮度温度值,并且采集黑体和热辐射环温度传感器的信号。
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