[发明专利]一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置及方法

权利要求书

1.一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置，其包括：

一待测黑体；

一热辐射环，所述热辐射环位于所述待测黑体的开口一侧；

一红外辐射温度计，所述红外辐射温度计测量采集到的辐射信号，其特征在于：

在所述热辐射环与所述红外辐射温度计之间设置有水冷光阑，所述水冷光阑用于降低杂散辐射。

2.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置，其特征在于：在所述待测黑体的外侧具有恒温水冷套。

3.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置，其特征在于：在所述待测黑体的腔底的后部设置有温度计，用对测量所述待测黑体的温度。

4.如权利要求1所述的基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置，其特征在于：在所述热辐射环上具有加热膜。

5.一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量方法，其采用如权利要求1-4的测量装置，其特征在于：

至少提供黑体、热辐射环、红外辐射温度计；

步骤(1)保持黑体和热辐射环处于预定温度状态，红外辐射温度计测量黑体辐射亮度温度值，同时采集黑体和热辐射环温度传感器的信号；

步骤(2)将热辐射环从黑体前端移开，开始加热热辐射环到高于黑体的温度；

步骤(3)将热辐射环移动到黑体前部，辐射温度计测量黑体辐射亮度温度值，并且采集黑体和热辐射环温度传感器的信号。