[发明专利]芯片接合膜、切割-芯片接合膜及层叠膜有效
申请号: | 201510142546.5 | 申请日: | 2015-03-27 |
公开(公告)号: | CN104946147B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 木村雄大;三隅贞仁;村田修平;大西谦司;宍户雄一郎 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | C09J7/30 | 分类号: | C09J7/30;C09J7/20;C09J133/08;C09J163/00;C09J11/04;B32B7/12;H01L21/683 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 葛凡 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 接合 切割 层叠 | ||
1.一种切割-芯片接合膜,其具备:
具有基材及配置在所述基材上的粘合剂层的切割胶带、
配置在所述粘合剂层上的雾度为0%~25%的芯片接合膜,
所述基材由与所述粘合剂层接触的第1主面及与所述第1主面相对的第2主面定义两面,所述第2主面的表面粗糙度Ra为0.5μm以上,
所述基材在波长为400nm~600nm的全部区域下的光线的透射率为0%~20%,
所述芯片接合膜在拉长到200%的状态下的波长为600nm的光线的透射率比未拉长的状态下的波长为600nm的光线的透射率低5%以上。
2.如权利要求1所述的切割-芯片接合膜,其中,
所述芯片接合膜具备用于粘贴半导体晶片的粘贴部、及配置在所述粘贴部的周边的非粘贴部,
在所述非粘贴部设置有标记。
3.如权利要求2所述的切割-芯片接合膜,其中,
所述标记能够光学地进行识别。
4.如权利要求1或2所述的切割-芯片接合膜,其中,
所述第2主面的表面粗糙度Ra为0.5μm~5μm。
5.一种层叠膜,其具备隔片和切割-芯片接合膜,
所述切割-芯片接合膜具有芯片接合膜以及切割胶带,
所述芯片接合膜配置在所述隔片上且雾度为0%~25%,
所述切割胶带具备配置在所述芯片接合膜上的粘合剂层、及配置在所述粘合剂层上的基材,
所述基材由与所述粘合剂层接触的第1主面及与所述第1主面相对的第2主面定义两面,所述第2主面的表面粗糙度Ra为0.5μm以上,所述基材在波长为400nm~600nm的全部区域下的光线的透射率为0%~20%,
所述芯片接合膜在拉长到200%的状态下的波长为600nm的光线的透射率比未拉长的状态下的波长为600nm的光线的透射率低5%以上。
6.如权利要求5所述的层叠膜,其中,
所述隔片具备与所述芯片接合膜接触的层叠部、及配置在所述层叠部的外周的外周部,
在所述外周部设置有标记。
7.如权利要求5所述的层叠膜,其中,
所述隔片具备与所述芯片接合膜接触的层叠部,
在所述层叠部的边缘设置有标记。
8.如权利要求6或7所述的层叠膜,其中,
所述标记为刻痕。
9.如权利要求8所述的层叠膜,其中,
所述刻痕的深度为5μm~45μm。
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