[发明专利]一种具有表面粗化结构的三结GaAs太阳电池的制备方法有效
申请号: | 201510143508.1 | 申请日: | 2015-03-30 |
公开(公告)号: | CN104733556B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 李俊承;韩效亚;杨凯;林洪亮;徐培强;白继峰;张双翔;王英 | 申请(专利权)人: | 扬州乾照光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0687 | 分类号: | H01L31/0687;H01L31/0693;H01L31/0216;H01L31/0236;H01L31/18 |
代理公司: | 扬州市锦江专利事务所32106 | 代理人: | 江平 |
地址: | 225009 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 表面 结构 gaas 太阳电池 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及多结太阳能电池制备技术,属于半导体材料的生产技术领域。
背景技术
由于砷化镓及其基系的多种材料的良好性能,以及这种多结叠层太阳电池结构基本已实现全光谱吸收,使得其光电转换效率始终远远领先于其他太阳电池。这一优势加上该电池的优良耐辐照性能和耐高温性能,进一步提高了电池的空间应用的可靠性及其使用寿命,已日益呈现替代高效硅太阳电池和单结砷化镓太阳电池的趋势,成为航天飞行器空间电源主力军。自2002年起,国外的空间飞行器大多使用三结砷化镓太阳电池作为空间主电源,目前的在轨电池超过750kW。2008年8月18日的CompoundSemi Online上报道了NERL最新创下的新记录:倒置结构的三结砷化镓太阳电池在326倍聚光条件下的效率达到40.8%(AM1.5)。在国外可再生能源发展及市场的拉动下,我国日益清楚认识到利用可再生能源对国家经济和环保的重要性,并于2006年1月开始实施《中国可再生能源法》。在此契机下,我国太阳电池生产在近三年来持续以超过150%的年增长率飞速发展,已成为国际较大的太阳电池生产国。然而,制约太阳电池发展的主要瓶颈是其高昂的材料成本。为此,有必要开发新的高效率太阳电池产品及发电系统,实现发电成本显著降低,为我国大规模应用光伏发电提供新技术。
三结GaAs太阳电池,在顶电池Eg=1.96eV、中电池Eg=1.10 eV的情况下,理论的效率可以达到41.7。原因是电流密度与填充因子很高。同样在这个条件下,计算得出的顶电池电流密度为20.78mA/cm2,中电池为33.20 mA/cm2。但是实际中,顶电池电流密度只有17 mA/cm2,可以看出,顶电池电流密度是制约整个电池电流的瓶颈。目前,提高电池电流密度的通用方法是蒸镀减反射膜,但是三结砷化镓太阳电池对减反射膜的厚度、折射率非常敏感,该膜的细微变化将引起电池性能的明显变化,这对于批产的稳定性和合格率是非常不利的。
发明内容
针对现有技术上的缺陷,本发明目的是提出一种与顶电池InGaP晶格匹配的,而且带隙比较宽,对光的透过也比较好的具有表面粗化结构的三结GaAs太阳电池。
本发明在Si衬底一侧设置背电极,在Si衬底另一侧通过接触层设置由底电池、中电池和顶电池构成的外延片,主电极通过图形化的接触层设置在顶电池上,其特征在于在外延片的顶电池外设置表面粗化层,在表面粗化层上设置减反射膜。
本发明目的是本项目计划在顶电池上面利用MOCVD技术外延一层约2个μm的高铝组分的Al0.8Ga0.2InP材料,这种材料是与顶电池InGaP晶格匹配的,而且由于带隙比较宽,对光的透过也比较好。
本发明所述表面粗化层的上表面为若干的金字塔形。在芯片工艺端,利用化学溶液对不同晶向的腐蚀速率差异,制造出最利于陷光的“金字塔”结构,然后结合减反射膜工艺,本发明成功地将电池表面反射率降低至5%以内。本发明成功提高了整个电池的短路电流密度,实际证明通过工艺改进,短路电流密度Jsc可以达到17.5mA/cm2。
本发明的另一目的是提出以上具有表面粗化结构的三结GaAs太阳电池的制备方法,包括以下步骤:
1)在临时衬底上制备由底电池、中电池和顶电池构成的电池外延片:
在GaAs临时衬底上面,依次生长N型GaAs的缓冲层、GaInP腐蚀截止层、N型GaAs接触层、AlGaInP粗化层、GaInP顶电池、第一隧穿结、GaAs中电池、第二隧穿结、InGaAs底电池和P型GaAs接触层;
2)准备转移Si衬底:
选取导电类型为P型的转移Si衬底,经清洗备用;
3)在电池外延片的底电池背部和转移Si衬底正面,分别通过电子束依次蒸镀Ti、Pt和Au层,再将电池外延片与转移Si衬底进行金属键合;
4)采用碱性腐蚀液去除金属键合后的电池外延结构上的临时衬底;
5)在顶电池上制备主电极,在转移Si衬底上制备背电极;
6)对主电极之间的AlGaInP粗化层进行粗化;
7)在粗化后的AlGaInP粗化层表面制作减反射膜。
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