[发明专利]间歇性甘蔗煮糖结晶过程多目标优化方法

权利要求书

1.一种间歇性甘蔗煮糖结晶过程多目标优化方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)获取投种晶体特征和最终晶体尺寸分布参数；

将所述投种晶体特征作为第一约束变量，将所述最终晶体尺寸分布参数作为第一目标函数，通过所述第一约束变量和所述第一目标函数构建第一初始基因的变量值；

2)采用非支配排序遗传算法对步骤1)中所述第一初始基因进行寻优，得到所述最终晶体尺寸分布参数的Pareto优化解集；

3)采用TOPSIS方法对步骤2)中所述最终晶体尺寸分布参数的Pareto优化解集进行多目标决策，得到最优的最终晶体尺寸分布参数，其对应的所述投种晶体特征为最优的投种晶体特征；

4)获取过程变量和第一晶体尺寸分布参数；

所述过程变量包括：糖膏温度、糖液过饱和度、糖液纯度、晶体体积以及糖膏体积；

将所述过程变量作为第二约束变量，将第一晶体尺寸分布参数作为第二目标函数，通过所述步骤3)得到的最优的投种晶体特征和所述第二目标函数构建第二初始基因的变量值；

5)以步骤3)得到的所述最优的投种晶体特征作为初始变量，采用非支配排序遗传算法对步骤4)中所述第二初始基因进行寻优，得到所述第一晶体尺寸分布参数的Pareto优化解集；

6)以所述第二约束变量中的所述糖膏温度为依据，对所述第一晶体尺寸分布参数的Pareto优化解集对应的所述过程变量进行排序；

7)输出步骤3)中所述最优的投种晶体特征和步骤6)排序后的所述过程变量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤1)中所述投种晶体特征包括投种晶体重量以及晶体数量-体积分布的第零阶矩、第一阶矩、第二阶矩和第三阶矩。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤1)所述最终晶体尺寸分布参数包括最终晶体平均尺寸以及最终晶体尺寸变异系数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤4)所述第一晶体尺寸分布参数包括第一晶体平均尺寸和第一晶体尺寸变异系数。