[发明专利]栅导体层及其制造方法有效
申请号: | 201510147801.5 | 申请日: | 2015-03-31 |
公开(公告)号: | CN105632910B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 钟汇才 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/283;H01L29/49 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导体 及其 制造 方法 | ||
1.一种制造栅导体层的方法,包括:
向由栅侧墙限定的沟槽中填充导电材料粉末;以及
对填充的导电材料粉末进行激光退火,使其熔化/融化,然后冷却再结晶以形成导电材料层,所述导电材料层形成所述栅导体层。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,分多次向沟槽中填充导电材料粉末,且在每次填充后进行激光退火。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,每次填充的导电材料粉末包括不同成分。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,在填充导电材料粉末之前,该方法还包括:
向沟槽中填充栅介质层。
5.根据权利要求4所述的方法,还包括:
向沟槽中填充功函数调节层,其中功函数调节层设于栅介质层上。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,在形成栅导体层之后,该方法还包括:
进行平坦化处理,以去除沟槽外存在的栅介质层部分和功函数调节层部分。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,导电材料粉末包括TiN、W、Al和Cu中至少之一。
8.根据权利要求1所述的方法,还包括:去除沟槽外存在的导电材料粉末。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,利用胶带进行去除。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,激光退火局限于沟槽所在的区域。
11.一种栅导体层,包括实质上无空洞和毛孔的导电材料,其中,所述导电材料包括熔融后再结晶的导电材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造