[发明专利]一种改进的纳米多孔铜薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510150818.6 申请日: 2015-04-01
公开(公告)号: CN104789934A 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 刘洁;潘登 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/16;C23C14/58;C23F1/02;C23C24/00;C23C28/00;B32B3/24;B32B15/04;B32B9/04;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 吴宝根
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 改进 纳米 多孔 薄膜 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种改进的纳米多孔铜薄膜,其特征在于:在纳米多孔铜的表面修饰有单层石墨烯。

2.如权利要求1所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜,其特征在于:在所述的纳米多孔铜薄膜中,铜元素和锰元素的质量比为86~97:4~13。

3.如权利要求1所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜,其特征在于:所述的纳米多孔铜薄膜中的平均孔径分布为40~80 nm。

4.权利要求1所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤:

一个在单晶硅片上溅射锰靶材和铜锰合金靶材的步骤,将锰靶材和铜锰合金靶材放入磁控溅射制膜仪腔内的靶位上,将单晶硅片固定到靶位正上方的托盘上,关闭腔体并开始抽真空,腔体真空度抽到1.0~1.5×10-4 Pa后,设置溅射条件为溅射功率直流45~55 W、Ar气压力为0.5 Pa,打开纯锰靶材开始溅射,8~15 min后停止纯锰溅射,在硅片上制备得了一层纯锰薄膜,厚度为120~150nm,然后打开铜锰靶材开始溅射,30~50 min后停止铜锰溅射,在纯锰薄膜上形成一层铜锰合金薄膜,厚度为500~800nm;

一个采用脱金法对铜锰合金薄膜进行腐蚀的步骤,将步骤1)获得的铜锰合金薄膜放进盐酸溶液中进行腐蚀,盐酸溶液的浓度为0.05~0.2 M,腐蚀温度为20~30 ℃,反应2~25 h后得到纳米多孔铜薄膜;

将制备好的纳米多孔铜薄膜在去离子水中泡洗去除表面盐酸残留液;

将洗干净的纳米多孔铜薄膜放入石墨烯凝胶中浸泡,浸泡温度为20~30 ℃,浸泡5~8 h取出,在去离子水中泡洗去除表面浮着的石墨烯凝胶,得到与石墨烯复合的纳米多孔铜薄膜。

5.如权利要求4所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜的制备方法,其特征在于:所述的铜锰合金靶材中,铜元素和锰元素的质量比为29~34;66~71。

6.如权利要求4所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜的制备方法,其特征在于:在所述的纳米多孔铜薄膜中,铜元素和锰元素的质量比为86~97:4~13。

7.如权利要求4所述的一种改进的纳米多孔铜薄膜的制备方法,其特征在于:所述的纳米多孔铜薄膜中的平均孔径分布为:40~80 nm。

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