[发明专利]一种平面法线方位角测量方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201510153022.6 申请日: 2015-04-02
公开(公告)号: CN104697487B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 罗绍卓;罗林 申请(专利权)人: 北京天源科创风电技术有限责任公司
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00
代理公司: 北京方韬法业专利代理事务所11303 代理人: 刘晶婷
地址: 100018 北京市海淀区大柳树*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 法线 方位角 测量方法 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种平面法线方位角测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

A.调平激光发射装置,测量其激光基准线的方位角θ;

B.启动激光发射装置,向待测平面发射水平的激光束,并在保持激光束水平的同时改变激光束方向,使其偏转不同角度;

C.采集待测平面反射的激光信号,计算激光束到待测平面的投射距离;

D.找出投射距离最小时对应的激光束偏转角度β;

E.根据γ=θ+β计算所述待测平面法线的方位角γ。

2.根据权利要求1所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,所述步骤A中的方位角θ通过电子罗经测量获得。

3.根据权利要求1所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,所述步骤B中的激光偏转是通过与所述激光发射装置连接的偏转镜旋转实现的。

4.根据权利要求1所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,所述步骤B中的激光偏转是通过步进电机驱动所述激光发射装置实现的。

5.根据权利要求1所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,所述步骤C中计算激光束到待测平面的投射距离通过距离传感器测得。

6.根据权利要求1所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,当待测平面处于电磁干扰区时,所述步骤A中的方位角θ通过如下方式校正:先在非电磁干扰区获得激光基准线的方位角θ0,再到待测平面所处的电磁干扰区放置激光发射装置并调平后,测量激光发射装置位移产生的角度α,则校正后方位角θ=θ0+α。

7.根据权利要求6所述的平面法线方位角测量方法,其特征在于,所述激光发射装置位移产生的角度α通过电子陀螺仪测量获得。

8.权利要求1-7任一项所述的平面法线方位角测量方法的应用,其特征在于,用于通过测量滑环断面的法线的方位角,并将其值作为叶轮旋转平面的轴线方位角值来调整风力发电机的风向标基准轴线。

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