[发明专利]一种用于电弧故障检测装置AFDD测试装置及其方法

权利要求书

1.一种用于电弧故障检测装置AFDD的测试装置，其特征在于，包括：

变压器，其并联在电弧发生装置的两端，用于采集所述电弧发生装置的电压值；

电流互感器，其与所述电弧发生装置连接，并用于采集所述电弧发生装置的电流值；

整流电路，其输入端与所述变压器和所述电流互感器连接，并用于将所述电压值和所述电流值分别进行整流得到电压绝对值信号和电流绝对值信号并输出；

过零检测电路，其接收所述整流电路输出的所述电压绝对值信号和电流绝对值信号，分别进行处理得到电压过零信号和电流过零信号并输出；

积分电路，其与所述整流电路连接，并将所述电压绝对值信号和所述电流绝对值信号经过处理得到半个工频周期的电压半周期积分值和电流半周期积分值；

以及微处理器，其连接电弧故障检测装置，接收所述积分电路和所述过零检测电路的输出，并根据其内预先存储有电压半周期积分阈值和电流半周期积分阈值，计算得到所述电弧故障检测装置的响应时间和电弧半波数。

2.如权利要求1所述的用于电弧故障检测装置AFDD的测试装置，其特征在于，所述微处理器通过以下步骤得到所述响应时间和电弧半波数：所述微处理器接收所述电压过零信号和所述电流过零信号，并开启所述积分电路，接收 所述电压半周期积分值和所述电流半周期积分值并将其存储在积分值数据库中，所述微处理器中还预先存储有电压半周期积分阈值和电流半周期积分阈值，当所述电压半周期积分值大于所述电压半周期积分阈值，且所述电流半周期积分值大于所述电流半周期积分阈值时，判定为一个电弧半波，同时开启计数器和计时器；所述微处理器还与所述电弧故障检测装置连接，用于接收所述电弧故障检测装置的响应信号，当接收到第一个响应信号时，所述微处理器关闭所述积分电路，同时关闭所述计时器和所述计数器，得到所述电弧故障检测装置的响应时间和电弧半波数。

3.如权利要求1所述的用于电弧故障检测装置AFDD的测试装置，其特征在于，所述的变压器一次侧并接在所述电弧发生装置的两端，二次侧接匹配电阻。

4.如权利要求1所述的用于电弧故障检测装置AFDD的测试装置，其特征在于，所述整流电路为精密整流电路。

5.如权利要求1所述的用于电弧故障检测装置AFDD的测试装置，其特征在于，所述微处理器外接一显示设备，用于显示所述响应时间和所述电弧半波数。

6.一种采用如权利要求1至5任一项所述的AFDD测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

获取电弧发生装置的电压值和电流值；

所述电压值和所述电流值分别经过整流电路得到电压绝对值信号和电流绝对值信号；

所述电压绝对值信号和所述电流绝对值信号分别经过过零检测电路处理得到电压过零信号和电流过零信号；

微处理器对所述电压过零信号和所述电流过零信号进行半个工频周期的积分处理得到电压半周期积分值和电流半周期积分值，所述微处理器中还预先存储有电压半周期积分阈值和电流半周期积分阈值，当所述电压半周期积分值大于所述电压半周期积分阈值，且所述电流半周期积分值大于所述电流半周期积分阈值时，判定为一个电弧半波，同时开始统计电弧半波数和计时；所述微处理器还与电弧故障检测装置连接，用于接收所述电弧故障检测装置的响应信号，当接收到第一个响应信号时，停止计数和计时，得到所述电弧故障检测装置的响应时间和电弧半波数。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述积分处理包括：

微处理器接收 所述电压过零信号和所述电流过零信号，并开启积分电路，所述积分电路与所述整流电路连接，将所述电压绝对值信号和所述电流绝对值信号经过处理得到半个工频周期的电压半周期积分值和电流半周期积分值。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于，当接收到第一个响应信号时，关闭所述积分电路。

9.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述微处理器统计电弧半波数的算法为：定义一个变量temp用于存储当前信号的判定结果，当前信号判定为电弧半周期时，temp+1，否则不加；直至微处理器得到AFDD输出的响应信号，统计累计的电弧半波数N。