[发明专利]阵列基板、显示面板、弯曲程度检测方法

权利要求书

1.一种阵列基板，包括柔性衬底，所述柔性衬底上设有多行扫描线与多列数据线，多行扫描线与多列数据线交叉限定出所述柔性衬底上的多个像素单元，其特征在于，所述柔性衬底上还设有多行第一信号线与多列第二信号线，所述柔性衬底在若干个所述像素单元内设有导体层，所述导体层与所在列的所述第二信号线相连，用于生成与所述阵列基板弯曲程度有关的电信号，并用于在所述第一信号线上信号的驱动下经由所述第二信号线将所述电信号输出。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括：

与多行所述第一信号线相连的扫描模块，用于依次向每一行所述第一信号线输出扫描信号；

位于若干个所述像素单元内的开关模块，所述开关模块与所在行的第一信号线相连，并与所在像素单元的所述导体层相连，用于在接收到所述第一信号线上的扫描信号时向所述导体层提供预设电压；

与多列所述第二信号线相连的采集模块，用于采集所述第二信号线上的电信号，并结合所述预设电压得到所述导体层的电阻值；

与所述采集模块相连的计算模块，用于根据来自所述采集模块的电阻值计算所述导体层的弯曲程度。

3.如权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，任一行所述第一信号线与该行的扫描线采用同一条导体线形成；

所述扫描模块位于所述阵列基板的扫描驱动电路中。

4.如权利要求1至3中任意一项所述的阵列基板，其特征在于，对应于每一列所述第二信号线，所述采集模块包括第一参考电阻；

所述第一参考电阻的第一端与所述第二信号线相连，第二端连接参考电压。

5.如权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，对应于每一列所述第二信号线，所述采集模块还包括：

与所述第二信号线相连的第一采集子模块，所述第一采集子模块用于采集所述第二信号线上的电信号；

与所述第一采集子模块相连的第一计算子模块，所述第一计算子模块用于根据所述第一采集子模块得到的电信号结合所述预设电压的电压值、所述第一参考电阻的电阻值以及所述参考电压的电压值计算所述导体层的电阻值。

6.如权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，对应于每一所述第一参考电阻，所述采集模块还包括第二参考电阻与第三参考电阻，

所述第二参考电阻的第一端与所述第三参考电阻的第二端相连，第二端与所述第一参考电阻的第二端相连；

所述第三参考电阻的第一端连接所述预设电压。

7.如权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，对应于每一所述第一参考电阻，所述采集模块还包括：

与所述第二信号线相连的第二采集子模块，所述第二采集子模块用于采集所述第二信号线上的电信号；

与所述第二参考电阻的第一端相连的第三采集子模块，所述第三采集子模块用于采集所述第二参考电阻的第一端处的电信号；

与所述第二采集子模块、第三采集子模块相连的第二计算子模块，所述第二计算子模块用于比较所述第二采集子模块得到的电信号与所述第三采集子模块得到的电信号，并利用比较结果结合所述第一至第三参考电阻的电阻值计算所述导体层的电阻值。

8.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1至7中任意一项所述的阵列基板。

9.一种显示面板的弯曲程度检测方法，其特征在于，该显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括柔性衬底；所述柔性衬底上设有多行扫描线与多列数据线，多行扫描线与多列数据线交叉限定出所述阵列基板上的多个像素单元；所述柔性衬底上还设有多行第一信号线与多列第二信号线；所述阵列基板在若干个所述像素单元内设有导体层，所述导体层与所在列的所述第二信号线相连，所述方法包括：

依次向每一行所述第一信号线输出扫描信号；

在任一所述像素单元接收到所述第一信号线上的扫描信号时向该像素单元内的所述导体层提供预设电压；

采集所述第二信号线上的电信号，并结合所述预设电压得到所述导体层的电阻值；

根据所述导体层的电阻值计算所述导体层的弯曲程度。