[发明专利]用于光源、探测器与分析器的附接与对准设备，以及模块分析系统

权利要求书

1.一种附接与对准设备，其用于安装与测量体积光学连通的光学分析系统的多个部件，以使得能够沿着通过所述测量体积的对准的光学路径同时进行多个光学测量，其中所述设备包括:

第一附接点，其用于将所述设备附接在使得能够与测量体积光学连通的位置处；

安装件，其用于安装光学对准设备；

多个额外附接点，它们相对于所述安装件处于不同角位置处，所述多个额外附接点的每个都使得能够附接下述单元：光源单元；光探测单元；或者包括至少一个光源与至少一个探测器的组合单元；以在所述安装件与每个所述额外附接点之间提供不同的光学路径；以及

至少一个光学对准设备，其安装在所述安装件上，所述光学对准设备构造为通过沿着所述安装件与每个所述额外附接点之间的所述不同光学路径前行的光的测量体积来提供光学校准。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光学对准导致用于沿着所述安装件与每个所述额外附接点之间的所述不同光学路径前行的光的通过所述测量体积的单个光学路径，或者通过所述测量体积的多个紧密对准的光学路径。

3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述至少一个光学对准设备包括至少一个分束器。

4.根据权利要求1所述的设备，包括：中空本体，其限定所述不同光学路径，至少一些所述路径彼此以非零角度定向；以及分束器保持件，其用于保持分束器，以使入射在分束器上的光能够沿着所述不同光学路径中的相应一些路径以及沿着通过所述测量体积的所述对准的光学路径传输。

5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述中空本体布置为使得至少一些所述不同光学路径相对于彼此不垂直。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述分束器是对准组件的一部分，所述组件包括多个分束器，并且其中每个分束器都包括透射表面或反射表面。

7.根据权利要求5所述的设备，其中，所述中空本体限定多个臂，每个臂都与一个所述不同光学路径相关。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，至少一个臂包括位于沿着所述相应臂的长度的中间位置处的辅助凸缘附接与调节设备，所述辅助凸缘附接与调节设备构造为允许独立于其它臂来调节与所述相应臂相关的所述光学路径的对准。

9.根据权利要求4所述的设备，其中，所述分束器保持件可释放地接合在所述设备内。

10.根据权利要求3所述的设备，包括用于对分束器位置与定向提供调节的调节设备，其中所述调节设备使得能够利用手动或自动程序将所述分束器调节到最佳位置。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述调节设备包括自动控制机构，所述自动控制机构使所述分束器自动运动到要求位置或使所述分束器围绕一个位置振荡运动。

12.根据权利要求3所述的设备，其中，所述分束器是波长选择性分束器。

13.根据权利要求3所述的设备，其中，所述分束器提供了入射光的基于偏振的选择性透射或反射。

14.根据权利要求3所述的设备，其中所述分束器安装到压电元件上，所述压电元件控制为在平均位置周围振荡以便为穿过所述测量体积的光提供改变的光学路径长度。

15.根据权利要求3所述的设备，其中，所述分束器是在多个定向之间可移动的镜子或棱镜，以便与至少两个独立连接的部件的子组选择性地光学对准。