[发明专利]绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置

权利要求书

1.一种绝对重力仪中光速有限效应的双光路测试装置，其特征在于，包括：

隔振平台(1)、位于隔振平台(1)上方的支撑结构(2)、位于所述支撑结构(2)上方的第一激光干涉仪(3)、位于所述第一激光干涉仪(3)的下方的第一参考棱镜(4)、位于所述第一激光干涉仪(3)上方的落体真空腔(5)、位于所述落体真空腔(5)内的落体结构(6)、位于所述落体真空腔(5)上方的第二激光干涉仪(7)、位于所述第二激光干涉仪(7)上方的第二参考棱镜(8)；

所述落体结构(6)由两个落体棱镜固连组成，且所述落体结构(6)具有上、下反射面；

所述第一参考棱镜(4)、所述第一激光干涉仪(3)和所述落体结构(6)的下反射面构成第一激光干涉光路；所述第二参考棱镜(8)、第二激光干涉仪(7)和所述落体结构(6)的上反射面构成第二激光干涉光路；

当所述落体结构在所述落体真空腔中自由下落时，分别在所述第一激光干涉仪和第二激光干涉仪中形成干涉信号，通过第一探测器、第二探测器分别探测的干涉信号经过数据处理后实现差分测量，由于光速有限效应在两套干涉仪中的作用效果是相反的，而重力加速度、振动噪声和其他噪声对两套干涉仪的作用效果是相同的，是共模信号，因此通过这种差分测量就可以直接测量绝对重力仪中光速有限效应的大小。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述落体结构(6)中的两个落体棱镜均为角锥棱镜且对顶角设置。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述隔振平台(1)为谐振周期达15s以上的低频隔振系统。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一激光干涉仪(3)和第二激光干涉仪(7)的结构应该尽可能对称。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第一参考棱镜(4)与第二参考棱镜(8)刚性连接，且所述第一参考棱镜(4)与第二参考棱镜(8)的运动完全一致。