[发明专利]具有高级触发能力的测试和测量仪器

说明书

本发明涉及具有高级触发能力的测试和测量仪器。一种测试和测量仪器，包括被配置成接收被测试信号的输入，被配置成接受来自用户的第一触发事件和第二触发事件的用户输入，被配置成对第一触发事件的发生进行触发并且生成第一触发信号的第一触发解码器，被配置成对发生在第一触发事件之后的第二触发事件的发生进行触发并且生成第二触发信号的第二触发解码器，以及被配置成响应于第一触发信号而获取被测试信号并且基于第二触发信号使第一触发信号生效还是无效而存储所获取的被测试信号的获取系统。

技术领域

本公开一般地涉及经触发的测试和测量仪器的领域，并且更具体地涉及用于现代测试和测量仪器的高级触发系统。

背景技术

示波器是工程师用于获取和显示来自被测试电路的特定测试点的感兴趣波形的电子测试和测量仪器。最早的示波器没有触发能力，并且因而不能够产生感兴趣波形的稳定显示。触发电路被添加到早期的模拟示波器以通过总是响应于检测到触发事件而开始示波器屏幕上的波形的绘制来对显示提供稳定性。因此，触发事件的发生将会导致波形以稳定的方式显示在屏幕上的相同地方。

现代实时数字存储示波器（DSO）也采用触发系统来实现稳定显示，但是它们以实质上不同的方式进行操作。DSO连续地获取采样点并且将其存储在环形布置的获取存储器中。也就是说，当获取存储器中最后的存储器位置被填充时，存储器指针被重置到获取存储器的顶部，并且采样继续被获取和存储。在接收到触发事件之前收集的采样被称为预触发数据。触发事件的检测设置用于获取的“零”时间位置，并且随后所收集的采样被称为后触发数据。另一触发将不被接受，直到后触发数据的获取完成。

换言之，触发系统采用使得工程师能够捕获相对于时间上的特定事件的信号（对其进行触发）的技术。该技术通常被用于对高速数字电路进行故障排除（即调试）以标识导致那些电路的不适当操作的事件。所期望的触发事件可以是发生在时间上的单个点处的未预料到的模拟或数字操作的结果（异常）或作为逻辑序列的结果。

已经使得现代DSO能够对多种多样的事件进行触发。最常选择的触发是边沿触发，其针对正向或负向垂直转变的发生而检查被测试信号。此外，本领域中已知的高级触发的列表包括：毛刺（glitch）、矮波（runt）、脉冲宽度、电平、型式、状态、设立和保持违规、逻辑限定、超时、预定窗口、预定周期、时间限定转变、时间限定型式和串行数据触发。

序列触发在本领域中也是已知的并且在必须从两个不同事件来触发仪器时是有用的。在已知序列触发系统中，主（或A）触发事件选自可能的触发事件的菜单，并且延迟（或B）触发事件被占用（engaged）。在序列触发中A触发使示波器准备（arm）在接收到B触发时进行触发。

序列触发的形式在逻辑分析仪现有技术中也是已知的。然而，逻辑分析仪触发是基于时钟的、不连续的。也就是说，逻辑分析仪以其采样时钟对触发事件进行采样。在示波器中，触发事件以模拟形式应用于触发比较器；不牵涉时钟。在示波器中要求连续类型的触发以便示波器精确定位关于所接收的数据的时间上的触发点。而且，逻辑分析仪不响应于“模拟”触发（即要求与诸如上升时间、下降时间、窗口、矮波等之类的至少两个阈值的比较的那些触发）。最后，逻辑分析仪不采用除DC耦合之外的耦合模式。

不幸的是，甚至具有所有以上叙述的触发功能的DSO也不能对如在当今愈加复杂的电路中发现的某些复合事件进行触发。通过引用以其全部内容并入本文的美国专利No.7,191,079讨论了Pinpoint^TM触发的概念，其将序列触发的概念扩展至允许针对要在序列中识别的第一（或“A”）事件类型的多个选择、针对要在序列中识别的第二（或“B”）事件类型的多个选择以及包括第三（或“C”）事件和/或从A事件的超时以重置序列。然而，在所有这些情况中，单个A事件（不牵涉序列）或在A事件之后适当序列化的B事件成为触发事件（用于所捕获的波形的时间参考）。换言之，A触发使示波器准备在接收到B触发事件时进行触发。

所公开的技术解决现有技术的这些限制。

发明内容