[发明专利]一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块及标定方法

说明书

技术领域

本发明属于超声波探伤装备技术领域，更具体地说，是涉及一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块及标定方法。

背景技术

超声波检测是目前应用最为广泛的无损检测方法之一。标准测试块是超声无损检测时不可缺少的元件，其主要用于探头、检测仪的性能测试、灵敏度的调整，及测量范围的调整等方面的工作。

然而，现有的标准块，在使用时存在一定的弊端。例如，在利用测试块进行探头的标定时，特别是在低压电器电触点的检测领域，使用常规的标准测试块和标定方法，会给后续的测试带来一定的不便。传统的标准测试块，在进行探头标定时，采用A型显示脉冲反射法进行检测，通常以标准测试块上表面回波的高度测量为依据来调定脉冲发生器的增益，增益设定后，以此标准对工件进行检测。但是，在低压电器领域，利用超声波无损检测时，通常检测的是电触点的触头触桥的结合面，非上表面，那么，若仍然按照原有的标准和方法进行标定，则得到的测试信号强度会明显减弱，影响测试结果的判定。

发明内容

针对上述现有技术中的缺陷，本发明的目的是设计一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块及标定方法，所述测试块及标定方法可以解决传统标准试块的不足，能够快速标定探头的各类指标，同时不会因为标定面和实际检测面的不同而影响实际检测结果，保证了测试结果的准确性。

为实现上述的目的，本发明采用的技术方案是，

本发明提供一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块，包括厚度块和承载所述厚度块的支撑体，所述支撑体包括沉孔和实体两个部分，其中：所述沉孔包括第一凹槽和第二凹槽，所述第一、第二凹槽按从上到下的顺序依次设置于所述实体的上表面；所述厚度块镶嵌在所述沉孔的第一凹槽内，所述第二凹槽使得厚度块和实体之间保留一间隙；所述实体的下表面两端部分别设置有螺纹通孔，所述螺纹通孔用于所述测试块整体的位置固定。

优选地，所述厚度块的形状为长方体或圆柱体，但不限于长方体或圆柱体，需要保证所述厚度块具有恒定的均匀的厚度。

优选地，所述第一凹槽与所述厚度块的形状相匹配。

优选地，所述厚度块的长度或直径与所述第一凹槽的长度或直径相匹配。

优选地，所述第二凹槽的长度或直径比厚度块的长度或直径小4～8mm，形状与第一凹槽的形状相同。

本发明还提供一种低压电器电触点超声波无损检测标定方法，所述方法包括如下步骤：

步骤一：将厚度块镶嵌在支撑体沉孔的第一凹槽内；

步骤二：将测试块整体连接固定在测量水槽内；

步骤三：利用超声波无损检测设备，获得厚度块下表面的反射回波；

步骤四：调节脉冲发生器的增益面板，使得步骤三得到的厚度块下表面反射回波信号高度达到满幅的80％，满幅为1V；

步骤五：确定脉冲发生器的增益，并作为超声探头进行后续工件检测的标准。

优选地，步骤二中，所述测试块通过螺栓连接固定在测量水槽内。

优选地，步骤三中，采用A型显示脉冲反射法，获得所述厚度块下表面的反射回波。

由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：

本发明所述的一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块及标定方法，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头对检测厚度的标定，特别是在低压电器的超声波无损检测领域，解决了检测触头触桥结合面时检测强度偏弱的问题，具有很高的推广应用价值。

附图说明

图1为本发明一实施例的测试块组装体中心剖面图；

图2为本发明一实施例的厚度块俯视图和主视图，其中(a)为俯视图，(b)为主视图；

图3为本发明另一实施例的厚度块俯视图和主视图，其中(a)为俯视图，(b)为主视图；

图4为本发明一实施例的厚度块支撑体剖面图；

图中：1为支撑体，2为第一固定螺纹孔，3为第二凹槽，4为厚度块，5为第二固定螺纹孔，6为第一凹槽。

具体实施方式

以下对本发明的技术方案作进一步的说明，以下的说明仅为理解本发明技术方案之用，不用于限定本发明的范围，本发明的保护范围以权利要求书为准。

如图1-4所示，本实施例提供一种低压电器电触点超声波无损检测用测试块，所述测试块包括厚度块4、承载该厚度块4的支撑体1，其中：