[发明专利]处理目标存储器

说明书

提出了一种用于处理目标存储器的方法，该方法包括步骤：(i)在针对目标存储器的擦除操作之后检查目标存储器；以及(ii)在检测到缺陷的情况下用备用存储器代替目标存储器。

技术领域

本发明的实施例涉及用于处理目标存储器的方法和设备，具体地涉及即使在存储器的存储器单元故障的情况下高效地继续使用用于应用的存储器。

发明内容

第一实施例涉及一种用于处理目标存储器的方法，该方法包括步骤：

–在针对目标存储器的擦除操作之后检查目标存储器；

–在检测到缺陷的情况下用备用存储器代替目标存储器。

第二实施例涉及一种用于处理目标存储器的设备，该设备包括处理单元，该处理单元被布置用于：

–在针对目标存储器的擦除操作之后检查目标存储器；

–在检测到缺陷的情况下用备用存储器代替目标存储器。

第三实施例涉及一种直接可加载到数字计算机的存储器中的计算机程序产品，包括用于执行如本文所描述的方法的步骤的软件代码部分。

第四实施例涉及一种计算机可读介质，例如任何类型的存储，该计算机可读介质具有适于使得计算机系统执行如本文所描述的方法的计算机可执行指令。

附图说明

参考附图示出并且图示了实施例。附图用来图示基本原理，使得只有用于理解基本原理必要的方面被图示。附图不一定成比例。在附图中，相同的附图标记表示同样的特征。

图1示出了包括在线修复页面擦除操作的步骤的示意流程图；

图2示出了包括在线修复页面擦除操作的步骤的示意流程图；

图3示出了可视化在线修复页面操作的示意图；

图4示出了可视化在线修复扇区操作的示意图。

具体实施方式

存储器单元，例如闪存单元，可能经历在制造过程期间引入的局部缺陷。这样的局部缺陷可以导致存储器单元与像例如源极或者漏极接触的其他结构之间的隔离中的薄弱。用于对存储器单元进行编程的电压和用于擦除存储器单元或者包括存储器单元的存储器区域(例如，页面或者扇区)的电压(可能不同)可能导致隔离的失效并且因此导致至少一个缺陷存储器单元。

在存储器单元的制造过程之后，可以运行测试程序以在它们被销售或者被置于服务中之前测试存储器单元。然而，测试程序可能未展现所有的缺陷存储器单元或者所有潜在的缺陷存储器单元。具体地，一些存储器单元可以随着时间退化，并且在置于服务中之后达到它们的缺陷状态。另外，测试程序是耗时且昂贵的并且可能在一些产品中不覆盖所有缺陷。

存储器单元可以是嵌入闪速存储器单元的存储器单元，例如在独立的或者嵌入式设备中的FLASH或者EEPROM存储器单元。

本文所提供的示例引入在线修复构思，其允许降低存储器单元的可能的缺陷的影响。这样的在线修复构思可以用于已经在设备中实现并使用的存储器单元上。解决方案具体地确定至少一个缺陷存储器单元并且提供不使用该至少一个缺陷存储器单元的措施。注意，术语“修复”可以指逻辑存储器区域的功能被保持的结果，尽管目标存储器可能已经由备用存储器代替。就这点而言，“修复”包括由备用存储器(部分)代替的含义。

此外，所提供的示例可以利用对于包括几个备用页面的一个备用存储器部分(即，备用扇区)的页面和扇区擦除操作的组合。例如，假如目标页面的擦除示出故障，可以使用备用扇区的备用页面面代替(目标扇区的)目标页面。此外，在目标扇区的擦除示出故障的情况下，可以使用备用扇区代替目标扇区。