[发明专利]一种存储模块的测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别是涉及一种存储模块的测试装置。

背景技术

存储模块，如UDP模块(UDP模块指的是由深圳市江波龙电子有限公司自己研制开发的基于COB封装工艺的USB存储盘)、多功能存储模块(详见申请号为：201220371432.X公开的一种多功能存储模块)，其在生产完成后一般都要进行对其测试以确保其是否存在生产不良。

现有技术中，通常对所述存储模块进行测试是通过专门的测试装置进行的，即将所述存储模块插入测试装置上预先设定的测试接口进行。但是，现有的测试装置，普遍都存在以下弊端：第一，测试装置的材质，如普通塑胶，不具备耐高温的特性，从而不能满足所述存储模块在进行老化测试时的耐高温需求；第二，由于同一个测试装置需要用于对多个所述存储模块进行测试，这样每测试一个存储模块，都需要对测试装置进行单独的一次插拔操作，即需测试多个存储模块时，要对测试接口进行多次插拔操作，时间久了，势必会轻易的对测试接口造成损坏；第三，测试装置的测试接口的尺寸往往都是固定的针对某一型号的存储模块进行测试，不能同时兼容更多的存储模块进行测试，使用起来不灵活。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储模块的测试装置，旨在提供一种较合理的存储模块测试装置结构设计方案，使得存储模块测试装置具有耐高温、耐磨损的特性、且具备较好的兼容性。

本发明提供的一种存储模块的测试装置，包括测试架本体、第一支撑板、第二支撑板、第三支撑板、上板盖、下板盖以及将各个组件一体化连接的固定装置，所述测试架本体包括印刷电路板、电连接于所述印刷电路板一侧的插接头以及置于所述印刷电路板上的连接器，所述第一支撑板与所述第二支撑板由下至上依次叠置于所述印刷电路板上，所述第一支撑板与所述第二支撑板对应位置上分别设有第一开口与第二开口，所述第一开口与所述第二开口叠置形成第三开口，所述连接器置于所述第三开口内形成可供待测试存储模块插入的测试口，所述第三支撑板置于所述印刷电路板底部，所述第三支撑板上设有可供所述插接头伸出的第四开口，所述上板盖叠置于所述第二支撑板之上，所述下板盖叠置于所述第三支撑板底部，其特征在于：所述第一支撑板、第二支撑板、第三支撑板、上板盖以及下板盖的材质均为FR-4环氧树脂；所述第二支撑板的第二开口内侧设置有一用于抵接待测试存储模块的挡块。

可选地，所述第一支撑板至少为两块，各所述第一支撑板依次叠置，每个所述第一支撑板的第一开口对应叠置。

可选地，所述第一开口、与所述第二开口分别位于所述第一支撑板与所述第二支撑板的边缘，且均呈半封闭状。

可选地，所述印刷电路板上还设有焊接端子，所述第一支撑板上还设有用于容置所述焊接端子的容纳口。

可选地，所述容纳口呈封闭状，其截面为矩形、圆形或异形。

可选地，所述第三支撑板至少为两块，各所述第三支撑板依次叠置，每个所述第三支撑板的第四开口对应叠置。

可选地，所述第四开口位于所述第三支撑板的边缘，且呈半封闭状。

可选地，所述连接器上设置有金属弹片组，所述金属弹片组包括符合标准USB2.0接口协议的四个金属弹片，所述插接头内设置有金属触片组，所述金属触片组包括符合标准USB2.0接口协议的四个金属触片，四个所述金属弹片与四个所述金属触片一一对应电连接。

本发明中采用FR-4环氧树脂来制作第一支撑板、第二支撑板、第三支撑板、上板盖以及下板盖，利用FR-4环氧树脂较高的机械性能和介电性能，较好的耐热性和耐潮性及良好的机械加工性，使测试装置能够满足进行老化测试时需要耐高温的特性需求时；在第二开口内侧设置的挡块，使测试装置同时具备耐磨损的特性。

附图说明

图1是本发明较佳实施例中存储模块测试装置的立体结构示意图；

图2是本发明较佳实施例中存储模块测试装置的立体爆炸图；

100-测试装置；110-测试架本体；111-印刷电路板；112-插接头；

113-连接器；114-金属弹片组；120-第一支撑板；121-第一开口；

122-容纳口；130-第二支撑板；131-第二开口；132-挡块；

140-第三支撑板；141-第四开口；150-上板盖；160-下板盖；

170-固定装置；171-螺丝；172-螺母；180-第三开口。

具体实施方式