[发明专利]一种测试温度校正方法、控制器与测试温度校正系统

权利要求书

1.一种测试温度校正方法，其特征在于，包括：

检测反应区域温度；

当所述反应区域温度低于第一阈值温度时，加热反应区域至第一阈值温度后开始预设内容的测试，将测试值作为目标值；

当所述反应区域温度为第一阈值温度时，直接开始预设内容的测试，将测试值作为目标值；

当所述反应区域温度高于第一阈值温度且低于第二阈值温度时，直接开始预设内容的测试，得到测试值后，根据反应区域温度获取对应的校正函数，利用所述校正函数对测试值进行校正得到目标值。

2.根据权利要求1所述的测试温度校正方法，其特征在于，根据反应区域温度获取对应的校正函数包括：

获取校正函数集合，选取所述校正函数集合中包含的与当前反应区域温度最接近的温度值，将该温度值对应的校正函数确定为当前反应区域温度对应的校正函数。

3.根据权利要求2所述的测试温度校正方法，其特征在于，所述校正函数为包括第一校正系数和第二校正系数的线性关系函数。

4.根据权利要求3所述的测试温度校正方法，其特征在于，获取校正函数集合包括：

确定第一预设数目的各实验浓度值；

确定高于第一阈值温度且低于第二阈值温度的第二预设数目的各实验温度值；

在反应区域温度为各实验温度值时分别进行各实验浓度的预设内容的测试，得到每种实验温度值下与各实验浓度对应的各实验测试值；

在反应区域温度为第一阈值温度下进行各实验浓度的预设内容的测试，得到与各实验浓度对应的各参照测试值；

根据各实验浓度对应的参照测试值与实验测试值得到反应区域浓度为每种实验温度值时，对应的实验测试值与反应区域温度为第一阈值温度的参照测试值的第一校正系数和第二校正系数；

根据每种实验温度值的第一校正系数与第二校正系数得到对应的校正函数。

5.一种控制器，其特征在于，应用于测试温度校正，所述控制器包括：

判断模块，用于判断检测到的反应区域温度与第一阈值温度以及第二阈值温度的大小；

控制加热模块，用于当反应区域温度低于第一阈值温度时控制加热反应区域至第一阈值温度；

测试模块，用于当反应区域温度不低于第一阈值温度时，进行预设内容的测试得到测试值；

校正模块，用于当反应区域温度高于第一阈值温度且低于第二阈值温度时，根据反应区域温度获取对应的校正函数，利用所述校正函数对测试值进行校正得到目标值。

6.根据权利要求5所述的控制器，其特征在于，所述校正模块包括：

校正函数获取子模块，用于获取校正函数集合，选取所述校正函数集合中包含的与当前反应区域温度最接近的温度值，将该温度值对应的校正函数确定为当前反应区域温度对应的校正函数。

7.根据权利要求6所述的控制器，其特征在于，所述校正函数为包括第一校正系数和第二校正系数的线性关系函数。

8.根据权利要求6所述的控制器，其特征在于，所述校正函数获取子模块包括：

校正函数集合获取子模块，用于确定第一预设数目的各实验浓度值；

确定高于第一阈值温度且低于第二阈值温度的第二预设数目的各实验温度值；

在反应区域温度为各实验温度值时分别进行各实验浓度的预设内容的测试，得到每种实验温度值下与各实验浓度对应的各实验测试值；

在反应区域温度为第一阈值温度下进行各实验浓度的预设内容的测试，得到与各实验浓度对应的各参照测试值；

根据各实验浓度对应的参照测试值与实验测试值得到反应区域浓度为每种实验温度值时，对应的实验测试值与反应区域温度为第一阈值温度的参照测试值的第一校正系数和第二校正系数；

根据每种实验温度值的第一校正系数与第二校正系数得到对应的校正函数。

9.根据权利要求6～8任一项所述的控制器，其特征在于，还包括存储模块，用于存储所述各反应区域温度对应的校正函数。

10.一种测试温度校正系统，其特征在于，包括权利要求5～9任一项所述的控制器，还包括：

温度传感器，与所述控制器的输入端相连接，用于检测反应区域温度并将该温度信息发送给所述控制器；

加热装置，与所述控制器的输出端相连接，用于根据所述控制器发送的控制信息来提升反应区域温度。