[发明专利]一种光电经纬仪的外场星校方法

权利要求书

1.一种光电经纬仪的外场星校方法，所述外场星校方法包括：

根据光电经纬仪的探测器性能，确定所述探测器能够探测的最低星等，选择亮度高于最低星等且符合方位角限制和高低角限制的多个恒星作为被测恒星；

针对每一个被测恒星，获取所述被测恒星拍摄时刻的方位角理论值和高低角理论值；

获取所述被测恒星在所述拍摄时刻的视位置；

调整所述光电经纬仪的指向，使所述被测恒星成像于所述光电经纬仪的视轴上；

获取所述被测恒星的方位角码盘读数值、高低角码盘读数值，以及方位角脱靶量、高低角脱靶量，确定所述被测恒星的方位角观测值、高低角观测值；

获取所述光电经纬仪的单项误差与所述被测恒星的上述参数之间的关系方程组；

根据获取的所述多个恒星的所述关系方程组，采用最小二乘法解算所述光电经纬仪的单项误差。

2.如权利要求1所述的外场星校方法，其中，所述光电经纬仪的单项误差包括垂直轴倾斜最大误差I、水平轴倾斜角b、照准差c以及零位差h。

3.如权利要求2所述的外场星校方法，其中，所述被测恒星拍摄时刻的方位角理论值为所述被测恒星拍摄时刻的高低角理论值为其中，

        (方程1)

式中：

t_ij为第i颗星第j画幅的地方恒星时，t_ij＝S₀+(D_ij-8^h)(1+μ)+λ-a_i(方程2)

为第i颗星第j画幅的方位角理论值；为第i颗星第j画幅的高低角理论值；a_i为第i颗星的视赤经；δ_i为第i颗星的视赤纬；S₀为世界时零点时的真恒星时；λ为测量站的天文经度；φ为测量站的天文温度；D_ij为拍第i颗星第j画幅的北京标准时；μ为民用时化恒星时系数，μ＝0.00273791。

4.如权利要求3所述的外场星校方法，其中，所述被测恒星拍摄时刻的方位角观测值为A_ij、高低角观测值为E_ij，其中，

Aij=Aij′′+ΔαijEij=Eij′′+Δeij]]>  (方程4)

式中：

Δα_ij为第i颗星在第j画幅上的方位角脱靶量；Δe_ij为第i颗星在第j画幅上的高低角脱靶量；A″_ij为第i颗星在第j画幅上的方位角码盘读数值；E″_ij为第i颗星在第j画幅上的高低角码盘读数值。