[发明专利]一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法

权利要求书

1.一种基于电磁散射理论的反射面天线表面误差的反演方法，其特征在于，包括以下步骤：

Step1、测量反射面天线反射面板表面误差，得到表面误差的实测数据；

Step2、根据表面误差的实测数据，建立表面误差分形模型；

Step3、根据表面误差分形模型，计算源项；

Step4、根据表面误差分形模型，计算谱振幅；

Step5、根据表面的源项与谱振幅，计算表面误差反演模型；

Step6、对表面误差反演模型的准确性进行检验，如果误差值在精度要求范围内，则建模结束；如果不符合误差精度指标，则重复Step2至Step5，直至误差值满足精度要求为止。

2.根据权利要求1所述的反演方法，其特征在于，在Step1中，测量反射面天线反射面板表面误差按如下步骤进行：

1a、确定面板测量的取样长度A和评定长度L；

1b、在取样长度A范围内，均匀设置100个目标点，对扫描面板范围进行精确定位；

1c、移动三维激光扫描仪，按照x向和y向等间距测量路径均匀扫描面板，得到原始测试数据；

1d、将原始测试数据输送至VxScan^TM软件，进行放大处理，得到表面误差测试数据。

3.根据权利要求1所述的反演方法，其特征在于，在Step2中，建立表面误差分形模型按如下步骤进行：

2a、对Step1得到的表面误差测试数据进行离散傅里叶变换，得到其功率谱密度函数：

p(ω)＝F(f(x_i))   式(1)

其中，F(·)表示傅里叶变换，f(x_i)表示第i点的表面误差测试数据；

2b、对变换后的结果取对数，得到logp(ω)～log(ω)曲线，用最小二乘法对曲线进行线性拟合，通过拟合得到一条直线，得到分形模型的幅值G和维数D，直线的斜率k和截距B与分形模型的参数G和D之间存在如下关系式：

D=5+k2]]>   式(2)

B＝2(D-1)logG-log(2lnγ)   式(3)

2c、根据步骤2b得到的幅值G和维数D的数值值，建立表面误差分形数学模型：

   式(4)

其中，为随机相位函数，参数γ＝1.5。