[发明专利]一种频谱仪及其多参数并行扫频的频谱测量方法有效
申请号: | 201510196966.1 | 申请日: | 2015-04-23 |
公开(公告)号: | CN104914307B | 公开(公告)日: | 2017-09-12 |
发明(设计)人: | 梁杰 | 申请(专利权)人: | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
主分类号: | G01R23/16 | 分类号: | G01R23/16 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 郭燕,彭愿洁 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频谱仪 及其 参数 并行 频谱 测量方法 | ||
1.一种多参数并行扫频的频谱测量方法,其特征在于,包括:
分割窗口:启动分割测试窗口功能;
根据预设的测试窗口数量,在屏幕上分割出多个测试窗口;
参数设置:依次选中所述多个测试窗口的一个并对其进行参数设置;
对被选中的测试窗口进行测试频点或者频段的设置;
信号测量:在每一个测试窗口上对其对应的频点或者频段进行频谱测量;
结果显示:在屏幕上显示每一个测试窗口所对应的测量结果。
2.如权利要求1所述的频谱测量方法,其特征在于,所述分割窗口步骤还包括生成所述多个测试窗口的序号;
所述生成所述多个测试窗口的序号的方式为:自动生成所述多个测试窗口的序号,或者选中的测试窗口的序号经过设置而被生成,或者测试窗口的序号编排依照该测试窗口被选中的顺序被生成。
3.如权利要求1所述的频谱测量方法,其特征在于,对选中的测试窗口进行参数设置为:对扫宽和/或分辨率和/或参考电平和/或扫描时间进行设置。
4.如权利要求1所述的频谱测量方法,其特征在于,所述信号测量步骤为:按次序利用每一个测试窗口对其对应的频点或者频段进行频谱测量。
5.如权利要求1所述的频谱测量方法,其特征在于,还包括:增加或减少测试窗口的数量。
6.如权利要求5所述的频谱测量方法,其特征在于,增加的测试窗口的参数与原有测试窗口中最后一个被进行参数设置的测试窗口的参数相同。
7.如权利要求1-6任一项所述的频谱测量方法,其特征在于,还包括设置测量模式,所述设置测量模式为:设置频谱仪的测量模式为单次测量或者循环测量;
所述单次测量为,频谱仪完成所述多个测试窗口的一次频谱测量后,结束测量过程;
所述循环测量为,频谱仪完成所述多个测试窗口的一次频谱测量后,循环执行频谱测量过程,直至达到预设的循环次数。
8.一种频谱仪,其特征在于,包括信号输入模块、控制处理模块、信号测量模块和显示模块;
所述信号输入模块连接至所述控制处理模块,用于获取输入信号;
所述控制处理模块用于根据预设的测试窗口数量,在显示模块上分割出多个测试窗口,并根据用户的设置,保存用户对每一个测试窗口进行的参数设置以及测试频点或者频段的设置;
所述信号测量模块连接至所述控制处理模块,用于对每一个测试窗口所对应的频点或者频段进行频谱测量;
所述显示模块连接至所述控制处理模块和所述信号测量模块,用于显示每一个测试窗口所对应的测量结果。
9.如权利要求8所述的频谱仪,其特征在于,所述参数设置包括扫宽和/或分辨率和/或参考电平和/或扫描时间的设置。
10.如权利要求8所述的频谱仪,其特征在于,所述控制处理模块还用于增加或减少测试窗口的数量,增加的测试窗口的参数与原有测试窗口中最后一个被进行参数设置的测试窗口的参数相同。
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