[发明专利]一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法在审

专利信息
申请号: 201510197011.8 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN105115441A 公开(公告)日: 2015-12-02
发明(设计)人: 孟凡武;贺亚洲;徐春广;刘方芳;郝娟;刘帅 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 温子云;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 回转 零件 特征 提取 自动 分段 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及几何量测量技术领域,具体涉及一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法。

背景技术

回转体零件广泛应用于兵器、航空航天、机械、汽车等各个领域,回转体零件的廓形对回转体零件装配性能和使用功能有着很大的影响,因此需要对其进行检测和评定。拾取特征点作为轮廓分段与识别技术的关键技术,国内外很多学者对由测量设备或扫描设备获得的轮廓数据的分段与识别进行了研究。现有的特征点的拾取方法采用曲率极值点法。曲率极值点法是通过曲线的曲率变化来识别曲线分段的特征点,基本原理是:先计算出每一轮廓测量点的近似曲率,然后将曲率绝对值大于设定阀值的局部极值点作为分段点——轮廓的角点。该方法的轮廓数据受噪声干扰时曲率会产生相应的噪声,并由此产生伪极值点和伪角点。

在回转体零件轮廓分段的过程中,轮廓数据点会受到噪声的干扰,如果回转体零件沿轴线的径向方向突变不大,噪声对特征点提取的影响比较小,甚至可以忽略不计,采用上述方法可以实现对其特征点的提取及分段,而且达到良好的效果;但是,如果回转体零件轮廓沿轴线的径向方向突变比较密集,台阶、沟槽较多,噪声对分段的影响比较大,此时往往会想到减小采样间隔,但是由于减小采样间隔使得采样点的个数增加,每个采样点都需要计算曲率,会导致曲率变化杂乱无章,无法判断特征点位置,导致无法提取特征点,从而无法对回转体零件进行分段,因此上述方法对此类回转体特征点的提取存在一定的局限性。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法,能够对沿轴线的径向方向突变比较密集的回转体零件轮廓提取特征点,从而实现小间隔分段。

该回转体零件廓形的特征点提取及自动分段方法,具体步骤如下:

步骤一、连续扫描回转体形廓,并进行间隔为Δx的等间隔均匀采样,实时获得采样点数据;

步骤二、根据步骤一中得到采样点数据,在2n+1曲率计算方法中利用式(7)对得到的回转体各个采样点的曲率进行变形,得到回转体各个采样点变形后的曲率:

ki=y··ix·i2-y·i2---(7)]]>

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