[发明专利]一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统在审

专利信息
申请号: 201510197806.9 申请日: 2015-04-23
公开(公告)号: CN105043995A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 林凌;李淑娟;张启蕊;刘红艳;李刚 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 温国林
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 位置 正弦波 频率 编码 阵列 透射 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,所述阵列式透射光测量系统包括:一组单色光源、一组光敏器件,以及与光敏器件外接的计算机,其特征在于,单色光源和光敏器件分布在被测样品的两侧;

采用不同频率的正弦波分别驱动单色光源组中的各个光源,实现对不同光源的编码,光敏器件组中的每个光敏器件接收到每个光源透过样品的光电信号组合;

通过所述计算机对光电信号组合进行解调分离得到光谱,将全部光敏器件得到的光谱进行排列得到总光谱;

所述计算机通过所述总光谱实现对样品的物质成分进行分析。

2.根据权利要求1所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,

单色光源组中的各个光源的数量大于或等于被测样品中的物质成分数,光敏器件组中的每个光敏器件的数量大于或等于被测样品中的物质成分数。

3.根据权利要求1所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源和所述光敏器件均匀、且对等排列。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为激光二极管,所述光敏器件为光敏二极管。

5.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为单色二极管,所述光敏器件为光敏二极管。

6.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为单色滤波片对白光滤波后得到的单色光,所述光敏器件为光敏二极管。

7.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为激光二极管,所述光敏器件为光电倍增管。

8.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为单色二极管,所述光敏器件为光电倍增管。

9.根据权利要求1或2或3所述的一种位置正弦波频率编码的阵列式透射光测量系统,其特征在于,所述光源为单色滤波片对白光滤波后得到的单色光,所述光敏器件为光电倍增管。

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