[发明专利]一种利用离子液体电沉积制备多孔锗的方法有效

专利信息
申请号: 201510201377.8 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN104752704B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 赵九蓬;李孟愈;李垚;郝健 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: H01M4/38 分类号: H01M4/38
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 代理人: 牟永林
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 利用 离子 液体 沉积 制备 多孔 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及制备多孔锗的方法。

背景技术

离子液体为完全由阳离子和阴离子组成的液体,一般由有机阳离子和无机阴离子组成,在室温下呈现为液态,属于有机盐类,具有极低蒸汽压、化学稳定性好、不易燃、电化学窗口宽、耐热性好、无环境污染等众多优点而受到广泛应用。传统的水系电镀由于会产生强酸强碱而会对环境污染较大而污染,离子液体的电沉积能够很好地避免有毒物质的排放,较少对环境的污染。

对于高容量负极材料锗,由于其在充放电过程中会发生严重的体积膨胀变化,使活性材料脱离集流体,导致锗材料利用率降低,电池容量下降。然而多孔状锗负极材料,不仅仅能够提高锗的比表面积,增强活性材料锗与集流体之间的结合力,增大集流体与活性物质锗接触的表面积,容纳更多活性物质,而且能够为锗负极材料在充放电的膨胀过程中提高较多的缓冲空间,减少锗的损失,提高锗的利用率,从而起到提高锗负极材料充放电性能的效果。但传统的制备锗负极材料的方法制备出的锗基材料多为颗粒状,即使颗粒之间存在空隙,其空隙一般较小且无序不能很好的缓冲锗的体积膨胀,或者为块状等也无法提供较多的缓冲空间,同时传统的制备方法均存在制备成本高,不环保,工艺繁琐等缺点。

发明内容

本发明要解决现有方法制备出的锗基材料多为颗粒状,即使颗粒之间存在空隙,其空隙一般较小且无序不能很好的缓冲锗的体积膨胀,或者为块状等也无法提供较多的缓冲空间,同时传统的制备方法均存在制备成本高,不环保,工艺繁琐的问题,而提供一种利用离子液体电沉积制备多孔锗的方法。

一种利用离子液体电沉积制备多孔锗的方法,具体是按照以下步骤进行的:

一、氢气泡沫法:将镍片和纯铜片打磨至平整光滑,去除杂质以及表面氧化层,得到打磨后的镍片和打磨后的纯铜片,将打磨后的镍片与直流电源的负极相连,得到负极极片,将打磨后的纯铜片与直流电源的正极相连,得到正极极片,然后将正极极片与负极极片置于电解液中,设置直流电源的电压为2V~20V,电流为0.1A~5A,反应5s~20s,得到多孔状金属铜箔;

所述的正极极片与负极极片的距离为1cm~10cm;所述的电解液为H2SO4、CuSO4、(NH4)2SO4及蒸馏水的混合液,所述的电解液中H2SO4浓度为1.0mol/L~3.0mol/L,所述的电解液中CuSO4浓度为0.1mol/L~1.0mol/L,所述的电解液中(NH4)2SO4的浓度为0.01mol/L~0.1mol/L;

二、电极的清洗处理:将高纯银丝分别用乙醇与超纯水在超声清洗器中清洗,干燥,得到清洗后的高纯银丝,将高纯铂环先置于质量百分含量为95%~99%的浓硫酸中,浸泡10h~24h,然后再将高纯铂环置于体积比为1∶(1~5)的双氧水与高纯水的混合液中,在温度为100℃~300℃下加热10min~60min,最后将高纯铂环置于超纯水中,在温度为100℃~400℃下加热20min~60min,干燥,得到清洗后的高纯铂环;

所述的双氧水的质量百分含量为10%~50%;

三、电解槽的清洗处理:将电解槽置于体积比为1:(1~4)的双氧水与高纯水的混合液中,在温度为300℃~500℃下加热30min~60min,再将电解槽置于超纯水中,在温度为200℃~300℃下加热20min~60min,干燥,得到清洗后的电解槽;

所述的双氧水的质量百分含量为30%~70%;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学,未经哈尔滨工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510201377.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top