[发明专利]传感器芯片的静电处理方法和装置

权利要求书

1.一种传感器芯片的静电处理方法，其特征在于，包括：

对所述传感器芯片中存储设定配置参数的寄存器进行静电放电测试，根据测试结果获取静电敏感的寄存器作为标识寄存器；其中，传感器芯片为兼容至少两个功能的传感器芯片，并对所述传感器芯片的所有功能对应的存储设定配置参数的寄存器进行静电放电测试，以获取所有的静电敏感的寄存器作为所述标识寄存器；

如果检测到传感器芯片设定功能开启事件，则将所述传感器芯片的工作标识设置为设定功能开启状态，如果检测到传感器芯片设定功能关闭事件，则将所述传感器芯片的工作标识设置为设定功能关闭状态；其中，根据检测到的不同的功能开启/关闭事件，将所述传感器芯片的工作标识设置为不同的值；

在检测到所述传感器芯片的工作标识为设定功能开启状态时，读取所述传感器芯片中标识寄存器的当前寄存值，其中，所述标识寄存器为存储设定配置参数的寄存器；

在全部标识寄存器中的所述当前寄存值与预存的标准寄存值不同时，或者大于半数的标识寄存器中的当前寄存值与预存的标准寄存值不同时，对所述传感器芯片进行复位处理，以消除所述传感器芯片中的静电，并在检测到所述传感器芯片的工作标识为设定功能开启状态时，开启所述传感器芯片的所述设定功能。

2.一种传感器芯片的静电处理装置，其特征在于，包括：

标识寄存器获取模块，用于对所述传感器芯片中存储设定配置参数的寄存器进行静电放电测试，根据测试结果获取静电敏感的寄存器作为标识寄存器；其中，传感器芯片为兼容至少两个功能的传感器芯片，并对所述传感器芯片的所有功能对应的存储设定配置参数的寄存器进行静电放电测试，以获取所有的静电敏感的寄存器作为所述标识寄存器；

工作标识设置模块，用于如果检测到传感器芯片设定功能开启事件，则将所述传感器芯片的工作标识设置为设定功能开启状态，如果检测到传感器芯片设定功能关闭事件，则将所述传感器芯片的工作标识设置为设定功能关闭状态；其中，根据检测到的不同的功能开启/关闭事件，将所述传感器芯片的工作标识设置为不同的值；

当前寄存值读取模块，用于在检测到所述传感器芯片的工作标识为设定功能开启状态时，读取所述传感器芯片中标识寄存器的当前寄存值，其中，所述标识寄存器为存储设定配置参数的寄存器；

复位模块，用于在全部标识寄存器中的所述当前寄存值与预存的标准寄存值不同时，或者大于半数的标识寄存器中的当前寄存值与预存的标准寄存值不同时，对所述传感器芯片进行复位处理，以消除所述传感器芯片中的静电，并在检测到所述传感器芯片的工作标识为设定功能开启状态时，开启所述传感器芯片的所述设定功能。