[发明专利]一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法

说明书

技术领域

本发明涉及微波测试技术领域，特别涉及一种微波自动测试系统校准方法。

背景技术

随着微波技术、微电子技术、信息技术的快速发展，推动待测试对象自身的功能更加丰富、技术组成与集成融合更加复杂和深入，由此给测试技术或相关产品提出更新、更高的技术要求。

基于传统单台仪器设备的测试内容与模式框架已在很多情况下不能适应新的测试需求，正在向融合综合化、信息化、自动化于一体的自动综合测控与信息交互模式转变，同时也需要创新提出或形成与之相适应的测试校准方法与技术。

目前对于微波自动测试系统的校准一般采用原位在线式的测试校准方式，即在微波自动测试系统进行测试前，将功率计分别连接至与被测试对象相连的各个测试端面处，通过与信号源的协同校准测试，将微波自动测试系统在测试过程中所自动构建的各个测试通道的插入损耗(系统误差)提取出来，提供测试后续的误差修正与数据处理，以提高测试准确度；或将矢量网络分析仪的测试校准面从仪器自身测试端口扩展至与被测试对象相连的各个测试端面处，将微波自动测试系统在测试过程中所构建的各个测试通道的系统误差通过在测试校准面进行矢量网络分析仪的校准测试进行修正与处理，以提高测试准确度。

现有技术中采用信号源、功率计协同校准修正测试通道插入损耗(系统误差)的方式有如下缺点：

(1)、在实际测试应用中，往往由于自动综合测试的通道复杂与非常规的要求，存在功率计无法连接至与被测试对象相连的各个测试端面处的情况，此时该方式无法适用；

(2)、功率计自身的端口失配会给插入损耗(系统误差)的修正引入误差从而降低最终测试准确度；

(3)、功率计需要分别连接至与被测试对象相连的各个测试端面处，校准测试过程耗时长、效率较低；

(4)、如果测试通道的组成单元发生变化，相应测试通道的插入损耗(系统误差)需要重新进行校准与修正，影响系统的使用效能；

现有技术中采用矢量网络分析仪以测试校准面扩展方式校准修正测试通道系统误差的方式有如下缺点：

(1)、在实际测试应用中，往往由于自动综合测试的通道复杂与非常规的要求，矢量网络分析仪的仪器测试端口与测试校准面(扩展)之间的通路长(插入损耗大)、失配环节多、通道组合状态多，超出矢量网络分析仪校准所需技术状态的要求范围，在测试校准面的校准精度较差甚至导致校准失效，无法满足测试准确度的要求；

(2)、矢量网络分析仪的校准测试需要在每个测试校准面进行，整个测试系统多通道测试校准面的校准测试过程耗时长、效率较低；

(3)、如果测试通道的组成单元发生变化，相应测试通道的系统误差需要重新进行校准与修正，影响系统的使用效能；

(4)在实际测试应用中，往往还会存在无法使用矢量网络分析仪对测试通道系统误差进行校准修正的情况，这时使用目前校准方式无法满足测试应用要求。

在微波自动测试系统的实际应用中，提出一种适用于自动测试系统的测试校准方法，有效解决自动测试过程中由于测试通道复杂以及非常规要求等原因，导致仪器自身校准测试性能受限所造成测试准确度下降或测试失效，是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明提出一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法，有效解决自动测试过程中由于测试通道复杂以及非常规要求等原因，导致通用测试仪器自身校准测试性能受限所造成测试准确度下降甚至测试失效的问题。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种基于散射参数级联的微波自动测试系统校准方法，基于可视化图形界面向导式人机交互操控模式，包括以下步骤：

步骤(1)：根据微波自动测试系统的具体测试应用状态，确定校准和测试所包含的全部测试通道及其各基本组成单元，并以此进行相应多维条件映射散射参数的校准数据配置；

步骤(2)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，控制系统配置各测试仪器设备进行自校准；

步骤(3)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，对于已有多维条件映射散射参数校准数据的各基本组成单元进行校准数据的调用与配置；

步骤(4)：根据微波自动测试系统的具体测试应用配置信息，对没有多维条件映射散射参数的校准数据的系统各测试通道基本组成单元，提示执行多维条件映射的散射参数测试校准及校准数据的提取与存储，直至测试应用所包含的全部测试通道及其各基本组成单元的校准数据配置全部完成；