[发明专利]一种地下电性薄层的识别方法和装置有效
申请号: | 201510210282.2 | 申请日: | 2015-04-28 |
公开(公告)号: | CN104793254B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 薛国强;闫述;钟华森;底青云;侯东洋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100000 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 地下 薄层 识别 方法 装置 | ||
1.一种地下电性薄层的识别方法,其特征在于,所述识别方法包括:
获取通过在待测地区进行瞬变电磁测深所得到的不同延迟时间对应的实测衰减电压数据;
根据所述实测衰减电压数据及其观测误差,确定所述实测衰减电压数据中所能识别的薄层数据;以及
在所述能识别的薄层数据中,根据每两个相邻薄层数据的延迟时间,确定所述待测地区中所能识别的每个薄层的厚度;
所述根据所述实测衰减电压数据及其观测误差来确定所述实测衰减电压数据中所能识别的薄层数据的步骤包括:
将所述不同延迟时间对应的实测衰减电压数据按预定顺序排序;
依次针对排序后的实测衰减电压数据中除首尾数据之外的每一个数据,以该数据和该数据的标准差的乘积作为判据,判断该数据前后两个数据的平均值与该数据之差的绝对值是否小于该判据:若是,则通过在所述排序后的实测衰减电压数据中删除该数据来更新所述排序后的实测衰减电压数据,若否,则继续对后一个数据进行替换判断;以及
将所述排序后的实测衰减电压数据经过最后一次更新后所包括的各个实测衰减电压数据确定为所述能识别的薄层数据;
所述确定所述待测地区中所能识别的每个薄层的厚度的步骤包括:
在按时间先后排序后的所述能识别的薄层数据中,用V(t1)和V(t2)表示任意两个相邻薄层数据,其中t1和t2分别为V(t1)和V(t2)对应的延迟时间,且t1<t2,d1和d2分别为该两个相邻薄层数据各自对应的探测深度,根据如下公式计算V(t1)和V(t2)之间对应的薄层的厚度:
h薄层为薄层厚度,μ0为真空磁导率,L为发射回线边长,q为探头有效接收面积,I为发射电流。
2.根据权利要求1所述的识别方法,其特征在于,所述根据所述实测衰减电压数据及其观测误差来确定所述实测衰减电压数据中所能识别的薄层数据的步骤包括:
获得实测衰减电压数据关于时间的TEM曲线,并为所述TEM曲线的时间道编号为1、2、...、N,对应的延迟时间分别为t(1)、t(2)、...、t(N),N为时间道总数;
对Vt(2)至Vt(N-1)依次进行替换判断:当对Vt(k+1)进行替换判断时,若Vt(k)和Vt(k+2)的平均值与Vt(k+1)之差的绝对值小于Vt(k+1)对应的判据时,在所述TEM曲线中舍去Vt(k+1)以及对应的t(k+1),并将Vt(k+2)至Vt(N)的时间道编号分别替换为各自原来编号减1后所得的值,然后继续对替换后的Vt(k+2)进行替换判断,其中k∈{1,2,...,N-2};若Vt(k)和Vt(k+2)的平均值与Vt(k+1)之差的绝对值大于或等于Vt(k+1)对应的判据时,继续对Vt(k+2)进行替换判断;其中,Vt(k+1)对应的判据为Vt(k+1)与Vt(k+1)对应的标准差的乘积,V为实测衰减电压;以及
将经过最后一次替换判断后的TEM曲线中包括的各个实测衰减电压数据确定为所述能识别的薄层数据。
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