[发明专利]一种检测装置及其检测方法有效

专利信息
申请号: 201510212374.4 申请日: 2015-04-29
公开(公告)号: CN104765173B 公开(公告)日: 2018-01-16
发明(设计)人: 王志强;张普国;杨立涛;任艳伟;张琨鹏 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种检测装置,用于检测显示基板上的不良,其特征在于,包括检测单元和控制单元,所述检测单元用于查找所述显示基板上的不良,对不良所在区域进行拍照,并将照片发送至所述控制单元;所述控制单元用于辅助所述检测单元查找所述显示基板上的不良,并对不良所在区域的照片进行分类统计;

所述检测单元包括相正对设置的第一显微摄像部和第二显微摄像部,所述显示基板用于设置在所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部之间;

所述第一显微摄像部包括第一显微镜和第一摄像头,所述第一摄像头位于所述第一显微镜的远离所述显示基板的一侧;所述第二显微摄像部包括第二显微镜和第二摄像头,所述第二摄像头位于所述第二显微镜的远离所述显示基板的一侧;所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜用于面向所述显示基板,且所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜相面对;

所述第一显微镜和所述第二显微镜用于察看所述显示基板上的各个区域的图像,所述第一摄像头和所述第二摄像头用于拍摄所述显示基板上不良区域的图片;

所述显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板;所述第一显微镜和所述第一摄像头之间能插入第一偏光片,所述第二显微镜和所述第二摄像头之间能插入第二偏光片,所述第一偏光片的偏振方向和所述第二偏光片的偏振方向相互垂直。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述第一显微摄像部还包括第一光源,所述第一光源设置在所述第一偏光片和所述第一摄像头之间,用于照射所述显示基板上所述第一显微镜的物镜所观察到的区域;

所述第二显微摄像部还包括第二光源,所述第二光源设置在所述第二偏光片和所述第二摄像头之间,用于照射所述显示基板上所述第二显微镜的物镜所观察到的区域。

3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测单元还包括第一联动部,所述第一联动部与所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部分别连接,用于带动所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部进行同步移动,以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能对应移动至所述显示基板的任意区域。

4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,所述控制单元包括点屏模块、存储模块、比较模块、分类统计模块和控制模块;

所述点屏模块连接所述显示基板,用于向所述显示基板提供显示信号,使所述显示基板显示用于检测其不良的图像;

所述存储模块包括第一存储子模块和第二存储子模块,所述第一存储子模块用于存储标准图片,所述标准图片用于鉴别所述显示基板上是否存在不良;所述第二存储子模块连接所述第一摄像头和所述第二摄像头,用于存储所述显示基板上不良区域的图片;

所述比较模块连接所述第一显微镜、所述第二显微镜和所述第一存储子模块,用于将所述第一显微镜和所述第二显微镜察看到的所述显示基板上不同区域的图像与所述标准图片进行比较,并根据比较结果判断所述显示基板上的不同区域是否为不良区域,且将判断结果发送至所述控制模块;

所述分类统计模块连接所述第二存储子模块,用于将所述显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类,并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计;

所述控制模块连接所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部,用于控制所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部的工作。

5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述标准图片为所述显示基板正常显示的图片或者所述显示基板不良显示的图片;

或者,所述标准图片为所述显示基板不显示时的正常图片或不良图片。

6.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,还包括透明载板和第二联动部,所述透明载板与所述第二联动部连接,所述透明载板用于承载所述显示基板;所述第二联动部用于带动所述透明载板移动,以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能察看到所述显示基板上的任意区域。

7.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,所述第一联动部和所述第二联动部分别与所述控制模块连接,所述控制模块还用于控制所述第一联动部和所述第二联动部的工作。

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