[发明专利]一种测量弱光纤光栅反射率的方法

权利要求书

1.一种测量弱光纤光栅反射率的方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

S1：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；

S2：将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质1的折射率为已知参数；

S3：保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；所述介质2的折射率为已知参数；

S4：利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率；S4中通过以下公式计算被测弱光纤光栅的反射率，

其中，R_s1为UPC型光纤接头的光纤端面置于介质1中的界面反射率，R_s2为UPC型光纤接头的光纤端面置于介质2中的界面反射率；R_F为被测光纤光栅反射率；ΔP(dBm)为两个反射光谱的峰值差；所述被测光纤光栅的反射率、UPC型光纤接头置于介质1和介质2中的界面反射率均大于10^-4；所述S1中的低反射率光纤光栅反射率测试系统包括APC型光纤接头、UPC型光纤接头、1X2分路器、宽带光源与光谱仪、以及被测光纤光栅；

所述被测光纤光栅的一端熔接APC型光纤接头，另一端熔接UPC型光纤接头；所述APC型光纤接头与1X2分路器的一端；所述1X2分路器的另外两端分别与宽带光源与光谱仪相连。

2.根据权利要求1所述的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，其特征在于：所述R_s1和R_s2通过以下公式进行计算，

其中，n₁为光纤纤芯折射率，n₂为介质1或介质2的折射率。