[发明专利]一种用于存储系统测试的方法与设备

权利要求书

1.一种用于存储系统测试的方法，其中，该方法包括：

x1根据所述存储系统的存储描述信息，生成与所述存储描述信息相对应的一个或多个测试数据；

x2根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例；

a对一个或多个所述候选测试用例进行筛选，以获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联；

b根据所述测试用例，生成一个或多个优选测试用例；

其中，该方法还包括：

-根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测试用例包括以下至少任一项：

-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据的测试用例；

-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的执行模型的测试用例；

-包含所述存储系统的边界值和/或异常值的测试用例。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤b包括：

-根据所述测试用例，确定所述测试用例中的一个或多个优选测试因子；

b1根据所述优选测试因子，生成一个或多个优选测试用例；

其中，所述优选测试因子包括以下至少任一项：

-所述测试用例中所采用的一个或多个测试数据；

-所述测试用例中所采用的一个或多个执行模型；

-所述测试用例中所采用的一个或多个测试语句。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述步骤b1包括以下至少任一项：

-将一个或多个所述优选测试因子与其他测试用例相结合，以生成一个或多个优选测试用例；

-将两个或多个所述优选测试因子相结合，以生成一个或多个优选测试用例。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤x2包括：

-根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例，其中，所述测试用例中包括一个或多个执行操作以及与每个执行操作相对应的检验操作。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，该方法还包括：

r根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述步骤r包括：

-获取所述优选测试用例的测试过程中的测试相关信息；

-根据所述存储系统的一个或多个测试结果，结合所述测试结果所对应的一个或多个优选测试用例以及所述测试相关信息，确定所述测试结果所对应的测试报告信息。

8.一种用于存储系统测试的测试设备，其中，该设备包括：

数据生成装置，用于根据所述存储系统的存储描述信息，生成与所述存储描述信息相对应的一个或多个测试数据；

候选用例生成装置，用于根据所述测试数据，生成与所述测试数据相对应的一个或多个候选测试用例；

获取装置，用于对一个或多个所述候选测试用例进行筛选，以获取一个或多个测试用例，其中，所述测试用例与能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据或测试语句相关联；

生成装置，用于根据所述测试用例，生成一个或多个优选测试用例；

其中，该设备还包括：

测试装置，用于根据所述优选测试用例，对所述存储系统进行测试。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其中，所述测试用例包括以下至少任一项：

-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的测试数据的测试用例；

-包含能够触发所述存储系统的系统漏洞的执行模型的测试用例；

-包含所述存储系统的边界值和/或异常值的测试用例。