[发明专利]来电开机功能的测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及计算机功能测试领域，特别是涉及一种来电开机功能的测试方法及系统。

背景技术

来电开机功能是指，给机器供电时，机器不需要按开关键就可以开机的功能。来电开机功能是普通计算机不常用的功能，但对于部分工业控制应用的计算机，或网络主机，来电开机是不可缺少的功能。因此，很多时候都需要对来电开机功能进行测试。

然而，对于来电开机功能的一些现有的测试方法都需要专用设备，通用性差、成本高，或实现原理复杂，难于在实际工作中广泛应用。

发明内容

基于此，有必要提供一种通用性好、低成本且容易实现的来电开机功能的测试方法。

此外，还提供一种来电开机功能的测试系统。

一种来电开机功能的测试方法，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试，包括：

设置供电周期的时长，所述供电周期包括一次来电和一次掉电，所述供电周期时长为来电时长与掉电时长的和；

控制所述供电周期进行循环；

记录来电次数和待测设备的开机次数；

将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果。

在其中一个实施例中，所述供电周期的来电时长不小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长。

在其中一个实施例中，所述来电次数通过计数器进行记录，所述待测设备的开机次数通过待测设备的内部计数程序进行记录。

在其中一个实施例中，将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果的步骤具体为：

将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，若比较结果为来电次数等于开机次数，则获取的测试结果为正常；若比较结果为来电次数大于开机次数，则获取的测试结果为异常；若比较结果为来电次数小于开机次数，则获取的测试结果为来电次数记录有误。

在其中一个实施例中，在将所述来电次数与所述待测设备的开机数进行比较，并根据比较结果获取测试结果的步骤之前还包括：

判断所述来电次数是否不小于循环次数阈值，若是，将所述来电次数与所述待测设备的开机次数进行比较，并根据比较结果获取测试结果；若否，每隔预设时间控制所述供电周期进行一次循环。

在其中一个实施例中，所述循环次数阈值为10000次。

在其中一个实施例中，所述掉电时长为10秒。

一种来电开机功能的测试系统，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试，包括供电电源、定时开关装置、计数器及待测设备；

所述定时开关装置用于设置所述供电电源的供电周期的时长，并控制所述供电周期进行循环，所述供电周期包括一次来电和一次掉电，所述供电周期时长为来电时长与掉电时长的和；

所述计数器用于记录来电次数；

所述待测设备内部安装有用于记录待测设备的开机次数的计数程序。

在其中一个实施例中，所述供电周期的来电时长不小于所述待测设备来电开机、对开机次数进行存储以及系统关机所需的总时长。

在其中一个实施例中，所述定时开关装置和所述计数器为一体式设计。

上述来电开机功能的测试方法及系统，通过设置供电周期的时长并对供电周期进行循环控制，然后再分别记录来电次数和待测设备的开机次数，将所述来电次数与所述开机次数进行比较就可以获取测试结果，其测试过程不依赖于特定的配件或仪器，通用性好、成本低、容易实现，实现原理简单，便于在实际工作中广泛应用。

附图说明

图1为一实施例中来电开机功能的测试方法流程图；

图2为一实施例中来电开机功能的测试系统结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

请参照图1，为一实施例中来电开机功能的测试方法流程图。

该来电开机功能的测试方法，用于对待测设备的来电开机功能的可靠性进行测试。在本实施例中，所述待测设备与外部设备没有信号传递，只有供电连接，可以理解，在其他实施例中，若所述待测设备与外部设备有信号的传递也不会影响本测试方法的效果。

该来电开机功能的测试方法具体包括以下步骤：