[发明专利]嵌入式芯片测试方法及系统在审
| 申请号： | 201510214829.6 | 申请日： | 2015-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN106205735A | 公开（公告）日： | 2016-12-07 |
| 发明（设计）人： | 權彞振;倪昊;赵子鉴;程昱 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彦君;吴敏 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 嵌入式 芯片 测试 方法 系统 | ||
【权利要求书】：
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