[发明专利]光学投影断层成像的检测方法

权利要求书

1.一种光学投影断层成像的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据，所述第一图像数据包括第一偏振条件图像数据、第二偏振条件图像数据和第一样本透射图像数据；

将所述第一样本透射图像数据进行处理得到透射三维数据；

将所述第一偏振条件图像数据和第二偏振条件图像数据进行处理得到偏振条件三维预数据和双折射组织区域图；

所述双折射组织区域图对所述偏振条件三维预数据进行反向投影得到偏振条件三维数据；

将所述透射三维数据、所述双折射组织区域图和所述偏振条件三维数据进行分析；

所述光学投影断层成像系统包括可调起偏器和可调检偏器，所述通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据包括：

当所述可调起偏器和所述可调检偏器的偏振方向垂直时，获取样本在所述偏振方向的第一偏振条件图像数据；

当所述可调起偏器和所述可调检偏器的所述偏振方向垂直且旋转第一角度时，获取所述样本在所述偏振方向的第二偏振条件图像数据，所述第二偏振条件图像数据包括第三偏振条件图像数据和第四偏振条件图像数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过光学投影断层成像系统采集第一图像数据还包括：

将所述样本以样本轴为中心每间隔第二角度进行旋转，获取所述第二角度对应的所述第一样本透射图像数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一样本透射图像数据进行处理得到透射三维数据包括：

将所述第一样本透射图像数据组成第一样本透射二维数据集；

将所述第一样本透射二维数据集进行对数运算得到第二样本透射二维数据集；

对所述第二样本透射二维数据集进行滤波反投影三维重建得到所述透射三维数据。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一偏振条件图像数据和第二偏振条件图像数据进行处理得到偏振条件三维预数据和双折射组织区域图包括：

从所述第一偏振条件图像数据、所述第三偏振条件图像数据和所述第四偏振条件图像数据中获取多个第一偏振条件组合图像数据；

将所述多个第一偏振条件组合图像数据组合为第二偏振条件二维数据集；

将所述第二偏振条件二维数据集进行滤波反投影三维重建得到所述偏振条件三维预数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述从所述第一偏振条件图像数据、所述第三偏振条件图像数据和所述第四偏振条件图像数据中获取多个第一偏振条件组合图像数据包括，重复执行以下处理，直至全部所述第一偏振条件图像数据、所述第三偏振条件图像数据和所述第四偏振条件图像数据都已被选取：

从所述第一偏振条件图像数据、所述第三偏振条件图像数据和所述第四偏振条件图像数据中分别选取偏振条件图像数据，获取选取的偏振条件图像数据在相同位置像素点的最大灰度值；

根据所述最大灰度值组合为第一偏振条件组合图像数据。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一偏振条件图像数据和第二偏振条件图像数据进行处理得到偏振条件三维预数据和双折射组织区域图还包括：

将所述第一偏振条件组合图像数据进行阈值分割处理得到第二偏振条件组合图像数据；

将所述第二偏振条件组合图像数据进行八邻域膨胀处理得到所述双折射组织区域图。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述透射三维数据、双折射组织区域图和所述偏振条件三维数据进行分析包括：

通过体绘制三维可视化方法对所述偏振条件三维数据进行三维数据的可视化，并分析所述双折射组织的外围轮廓和纹理特征；

通过体绘制三维可视化方法将所述偏振条件三维数据和所述透射三维数据的绘制结果进行融合，并分析所述双折射组织在所述样本中的分布和与其他组织的位置和形态关系。